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近衍射极限半导体激光束波面检测.pdf
第32卷第4期 中 国 激 光 V01.32,No.4
2005年4月 CHINESE OFLASERS April,2005
JOURNAL
文章编号:0258—7025(2005)04一0519一05
近衍射极限半导体激光束波面检测
刘宏展1’2,刘立人1,徐荣伟1,栾竹1,滕树云1
,1中国科学院上海光学精密机械研究所信息光学研究室,上海201800、
\ z中国科学院研究生院,北京lo0049 /
摘要在星间半导体激光通信系统中,如何检测发射光束波面的质量是个较难处理的问题,为了较好地解决这一
问题,在简单介绍白光横向双剪切干涉仪的基础上,报道了用此干涉仪对近衍射极限半导体激光光束波面的检测,
在此基础上推导出计算远场发散度的公式。实验测得近场光束的波高差为o.2A,通过夫朗和费衍射求得光束的发
散度仅为64.8。rad,这表明光束接近光学衍射极限。同时,表明双剪切干涉仪灵敏度高、实用性好。
关键词 光通信;双剪切干涉仪;发散度;衍射极限
中图分类号 TN929.13;0436.1;TN247文献标识码 A
WaVefront
NeartheDiffraction—Limited
Measuring
LaserBeam
ofSemiconductor
LIU Li—renl,XU Zhul,TENG
Hong—zhanl”,LIU Rong—weil,I。UAN Shu—yunl
n对dFi以P
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Chinese 100049,Chinn
Grnduntesch00e,The 1
\2 Academy0}Sciences,BeiJing
Abstract1nthesemiconductorintersatellitecommunicationtotestthe1aser isdifficult.
system,how beams’quality
Inordertos01vethis basal ofthewhitelateral interferometerisintroduced
problem,aprincipie light double—shearing
thesemiconductor1aserbeam’swavefrontwhichisnearthediffraction—limitedthe
then by
firstly,andmeasuring
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