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近衍射极限半导体激光束波面检测.pdf

第32卷第4期 中 国 激 光 V01.32,No.4 2005年4月 CHINESE OFLASERS April,2005 JOURNAL 文章编号:0258—7025(2005)04一0519一05 近衍射极限半导体激光束波面检测 刘宏展1’2,刘立人1,徐荣伟1,栾竹1,滕树云1 ,1中国科学院上海光学精密机械研究所信息光学研究室,上海201800、 \ z中国科学院研究生院,北京lo0049 / 摘要在星间半导体激光通信系统中,如何检测发射光束波面的质量是个较难处理的问题,为了较好地解决这一 问题,在简单介绍白光横向双剪切干涉仪的基础上,报道了用此干涉仪对近衍射极限半导体激光光束波面的检测, 在此基础上推导出计算远场发散度的公式。实验测得近场光束的波高差为o.2A,通过夫朗和费衍射求得光束的发 散度仅为64.8。rad,这表明光束接近光学衍射极限。同时,表明双剪切干涉仪灵敏度高、实用性好。 关键词 光通信;双剪切干涉仪;发散度;衍射极限 中图分类号 TN929.13;0436.1;TN247文献标识码 A WaVefront NeartheDiffraction—Limited Measuring LaserBeam ofSemiconductor LIU Li—renl,XU Zhul,TENG Hong—zhanl”,LIU Rong—weil,I。UAN Shu—yunl n对dFi以P f 1,九l厂or研仅£io胛L“60,’“zory,s^口行g^niJ舱sfif“£已。厂Op£ifs MPf^“nifs,] f^已c^j门PsP 201800,chi竹口 Af日dP7”yo厂sfiF”fF5,s^“”ghⅡi Chinese 100049,Chinn Grnduntesch00e,The 1 \2 Academy0}Sciences,BeiJing Abstract1nthesemiconductorintersatellitecommunicationtotestthe1aser isdifficult. system,how beams’quality Inordertos01vethis basal ofthewhitelateral interferometerisintroduced problem,aprincipie light double—shearing thesemiconductor1aserbeam’swavefrontwhichisnearthediffraction—limitedthe then by firstly,andmeasuring

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