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双极型制作工艺

双极型逻辑集成电路 1-1 电学隔离 (1)反偏PN结隔离 (2)全介质隔离 (3)混合隔离元件 (1)反偏PN结隔离 通过外延,选择性扩散等工艺方法,将芯片划分为若干个由P区包围的N型区,P区接电路中的最低电位,使PN结反偏。利用反偏PN结对器件进行隔离。 反偏PN结隔离 工艺简单 占芯片面积较大 且受反向漏电影响,隔离效果不是最佳 寄生电容较大 MOSFET可以利用自身的PN结实现电学隔离 (2)全介质隔离 用SiO2将要制作元件的N型区(或P型区)包围起来,实现隔离 全介质隔离 隔离效果好 工艺复杂(需要反外延,磨片等工艺),生产周期长,成品率低,成本高 (主要用于高压和抗辐射等特殊领域的集成电路) (3)混合隔离 元件四周采用介质隔离,而底部用反偏PN结隔离 混合隔离 可以使元件的图形尺寸缩小, 芯片面积利用率得到提高, (现已广泛采用这种方法 ) 在保证电路正常的工作情况下,尽量减少隔离岛的数目,是IC 版图设计中必须考虑解决的问题 埋层(埋层氧化) 埋层(埋层光刻) 埋层(埋层扩散) 埋层(去氧化层) 外延层(外延生长) 隔离(隔离氧化) 隔离(隔离光刻) 隔离(隔离扩散) 隔离(去氧化层) 基区(基区氧化) 基区(基区光刻) 基区(基区扩散) 基区(去氧化层) 发射区(发射区氧化) 发射区(发射区光刻) 发射区(发射区扩散) 发射区(去氧化层) 金属连线(引线氧化) 金属连线(接触孔光刻) 金属连线(蒸铝) 金属连线(引线光刻) 小结:双极型集成电路制造中的光刻掩膜 §1-3 双极型IC中的元件 一、集成电路中的纵向NPN管 (1) PN结隔离的纵向NPN管 (2)混合隔离的纵向NPN管 (3)小尺寸混合隔离的纵向NPN管 二、集成电路中的二极管 三、集成电路中的电阻 利用半导体材料的体电阻: 四、集成电路中的电容 PN结的反偏电容 平行板电容 §1-4 IC元件结构和寄生效应 一、结构 等效电路 二、寄生效应 1、NPN管的寄生效应 和分立器件不同,IC中晶体管包含有纵向寄生晶体管。 实际中,由于要隔离,衬底总是接最低电位,寄生PNP管的集电结总是反偏。 发射结、即NPN管的集电结:当NPN管在饱和区或反向工作区时,它正偏。这时寄生PNP管处于正向有源区。(在逻辑IC中,NPN管经常处于饱和或反向工作区)。于是有IEpnp分走IB流向衬底。 减小乃至消除的方法: NPN集电区掺金:少子寿命 ,β 埋层:基区宽度 ,基区N+掺杂 ,注入效率 , β 二、寄生效应 横向寄生效应 如一个n型岛内有两个P区,会形成横向PNP结构。 可以借此制作PNP管 如果不希望出现PNP效应,可拉大间距,或者n区接高电位。 在多发射结NPN管中,会形成横向NPN结构,当一个发射结接高电平,其余接地时,该输入端电流会过大,这可通过版图设计解决 串联电阻:引线孔在表面,集电极串联电阻大=》埋层 2.二极管中的寄生效应 IC中的二极管一般由NPN管构成,和1类似。 3.电阻的寄生效应 1)基区扩散电阻 要使电流全部流经P区,n区应接最高电位。这样同一个n区中的多个电阻之间即不会形成PNP效应,也不会产生纵向PNP效应。 课堂练习: P15/2 分析SiO2介质隔离集成晶体管的有源寄生效应和无源寄生效应,和PN结隔离相比有什么优点? N+埋层用于降低集电极串连电阻 考虑到反偏时,势垒区的展宽,各图形之间都留有较宽的距离,因而这种结构的NPN的图形面积比较大 N+埋层用于降低集电极串连电阻 N+埋层用于降低集电极串连电阻 基极与集电极之间插入了SiO2,避免二者的相互影响 基区,发射区都可延伸到SiO2层 ,尺寸可做得较小 SiO2 N+ N 外延层 P P+ P+ Al Al SiO2 SiO2 与NPN晶体管基区同时制作 与NPN晶体管发射区同时制作 N型隔离岛 RA RB N N+ N+ N+ 电阻A 电阻B 沟道电阻 SiO2 S下电极 M上电极 P+ P+ P衬底 N外延层 N+ N+扩散区 隔离框 上电极金属膜 N+接触孔 纵向:四层三结结构:n+ p n p 四层 横向:由版图决定 表现各元件的相对位置,形状,几 何尺寸,互连线走向 发射结 集电结 隔离结 三结 I 2)沟道电阻 * * 所有晶体管的集电极都在外延层上,隔离的目的是使不同

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