12嵌入式系统测试《嵌入式系统原理》.ppt

嵌入式系统原理第六章 应用编程与数据处理 嵌入式系统测试 软件开发周期 软件测试定义 使用人工或自动的手段来运行或测定某个软件系统的过程，其目的在于检验它是否满足规定的需求或弄清预期结果与实际结果之间的差别。 基本方法 单元测试 单个模块 集成测试 模块间，子系统内 确认测试 需求说明 实时性测试、安全性测试、健壮性测试、兼容性测试、可用性测试、压力测试、容量测试、文档测试、数据转换测试 单元测试 单元测试方法 实例化依赖基础对象 成本高 效率低 副作用 替代实例化方法 模仿对象法 被测模块 一种解决方法 实际例子 实际例子 覆盖率 语句覆盖 程序中的每条语句至少应该执行一次 ，很弱 判定覆盖 每个判定至少都获得一次“真值”或“假值” 条件覆盖 每一判定语句中每个逻辑条件的可能值至少满足一次 判定条件覆盖 同时满足判定覆盖、条件覆盖 路径覆盖 每一条可能的路径至少执行一次。 例子 (1)void someFunc(int a，int b) (2){ (3) if( (a0)||(b0) ) (4) { (5) someExecutableStatement; (6) } (7)} 完全语句覆盖 A=1 判定覆盖 条件覆盖 设计测试用例 等价类划分法 根据输出对输入分类 边界值法 变量的边界值 分支测试法 错误猜测法 单元测试的重要性 它浪费了太多的时间? 它仅仅是证明这些代码做了什么 ？ 是不是可以不进行单元测试？ 集成测试将会抓住所有的Bug，单元测试是不需要的？ 成本效率不高 ？ 集成测试 子系统的集成测试 系统的集成测试 集成测试 由上而下的集成测试方法 最高级别首先集成与测试 最大限度的减少工作量 比较复杂 不能支持有限版本的快速推出 由下而上的集成测试方法 实用工具模块 需要驱动 集成测试 伞形方法 测试沿功能性数据和控制流路径进行 函数的输入：由下而上的模式集成 函数的输出：由上而下的模式集成 支持有限功能的早期发布 减少对存根和驱动的需求 系统性 低 自顶向下型集成测试模型 自顶向下型集成测试过程 确认测试 所有子系统的整合测试 实时性测试Rhealstone 任务切换时间 抢占时间 中断延迟时间 信号量混洗时间 死锁解除时间 数据包吞吐率 嵌入式软件测试 仿真环境的功能 系统配置：为测试环境设定参数 测试实施：测试数据仿真、产生激励信号 测试分析：测试结果分析和评估 需要解决的问题 通信连接：以太网、RS232 测试控制：从主机输入测试用例，捕捉目标机上被测试模块是否正常接受测试用例以及输出测试反馈 测试反馈 测试任务切换时间 两种常用时间工具 初始态 捕获数据 移动寄存器1次 移动寄存器2次 移动寄存器6次 数据更新 设计指标 可控制性：控制输入，容易由外部输入控制内部节点的状态。 可观测性:观察输出，容易由外部输出观察内部节点的状态。 集成电路可测性设计 可测性设计方法 扫描方法： 将电路中的时序单元转化为扫描单元，这些扫描单元连接成一个或者多个移位寄存器；移位寄存器的内容可以由输出端逐位移出。 内建自测试方法： 测试结构嵌入测试对象内部，测试码在测试对象内部自动产生、测试激励在测试对象内部自动加载、测试响应在测试对象内部自动分析。 硬件可测性设计 扫描方法分类 分类 扫描范围：部分扫描/完全扫描 扫描原理：通路扫描、级敏扫描、奇偶扫描、扫 描置位、随机存取扫描、电平敏感扫 描、边界扫描 扫描方法－－扫描单元 扫描方法－－扫描链 扫描方法－－边界扫描 边界扫描法是扫描方法的一个重要分支，由JTAG（联合测试小组）提出并负责制定标准，即IEEE Std 1149.1，它在芯片的核心及引脚之间加入扫描单元，故而得名。 边界扫描原理图 内建自测试－－存储器方案 测试策略 归纳测试法 １．收集信息 ２．确定错误类型 ３．作出假设 ４．审查假设 ５．实施修正 ６．验证修正 无法作出假设 无法审查 不成功 １．列举可能的原因和假设 ２．排除一些原因和假设 ３．研究保留的原因和假设 ４．证明成立 ５．实施修正 ６．验证修正 不成功 收集信息 全部排除 无法证明 演绎测试法 测试方法 Yourdon的结构化走通方法 Fagan检查方法 控制流测试 数据流测试 分域测试 静 态 动 态 I/O 设备 文件 系统 虚拟存储器 基本内核 + 内存管理 Sm/Sd卡驱动 触摸屏驱动 DOS文件系统 WINDOWS文件系统 文件映射 设备映射 l??????? 自动测试工具研究问题 嵌入式操作系统自动测试工具缺乏，PC通用操作系统的自动测试工具如Ration