一种MCU的测试解决方案.pdf

2017.02 设计与研发 一种 MCU 的测试解决方案 陈元，高剑 （集成电路测试技术北京市重点实验室，北京自动测试技术研究所，北京，100088 ） 摘 要：对 MCU 进行测试时，如何高效生成测试向量是测试的难点。文章以 8 位 MCU STC12C5410AD 为例，详细地介绍了通过 使用仿真环境，以 C 语言编写功能测试程序，完成芯片寄存器控制和主要逻辑单元运算，然后使用集成电路测试系统直接生成 测试向量的解决方案。使用此解决方案，可根据测试要求，在较短时间内开发出MCU测试程序,节约测试开发成本。 关键词 ：单片机；MCU 测试；测试向量 DOI:10.16520/j.cnki.1000-8519.2017.02.011 MCU Test Solution Chen Yuan，Gao Jian (Beijing Key Laboratory of Integrated Circuit Testing Technology, Beijing Institute of Auto-Testing Technology, Beijing 100088, China) Abstract: How to quickly and efficiently generate the test pattern is a difficulty for MCU Test. This article introduces a test solution for STC12C5410AD 8-bit MCU, which can also be applied to test MCU with the similar structure. The solution of test is introduced in detail in this paper. C-language is applied in the programming for the control register and main logical operations in simulation environment first, and then the test vectors are generated directly by ATE. By this solution, MCU test program can be developed in a relatively short period of time according to the test requirements. Keywords: MCU; MCU test; test vectors 0 引 言 MCU 功能测试中测试向量的生成。 MCU(Micro Controller Unit) 微控制单元，又称单片微型 1.1 传统方法 计算机，简称单片机，是随着大规模集成电路的出现和发展，将计 1.1.1 伪随机测试向量生成法 算机的CPU、RAM、ROM、定时器和多种I/O 接口集成在一片芯片 伪随机测试向量生成法经历了三个阶段的发展 ：简单无系 上，形成的芯片级计算机，为不同的应用场合做不同组合控制 [1]。 统的随机测试向量生成阶段，复杂约束模型和语言增强正向制导 它具有体积小、使用灵活方便、成本低、易于产品化、抗干扰能力 的随机测试向量生成阶段及覆盖率驱动的测试向量生成阶段。这 强等特点 , 在工业控制、智能仪表、外设控制、家用电器、机器人、 类方法主要用于 IC 设计验证，在成测中较少直接使用，一般会通 军事装置等方面得到了广泛地应用。MCU 的广泛应用和发展也 过借鉴或结合此方法的某些特点，将程序改进为更适合具体测试 给