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【2017年整理】数字峰检原理
数值峰值测量
数字峰值测量的基本思路是将信号的瞬时幅值经A/D采样送入处理器,在信号周期内对输入信号的采样值进行大小比较,从而得出信号的峰值或峰峰值。这里以FPGA实现峰值测量为例说明实现过程。
在FPGA内部设置两个寄存器,分别存储目前为止测量到的最大值(REGM)和最小值(REGL)。下一个信号被采集进来以后,分别与这两个寄存器的数据比较,若大于原来的最大值,就用这个值替代REGM中的数据;如果小于最小值,就用这个值代替REGL中的数据;
否则,等待下一采样值的来临。每个信号周期结束以后,REGM和REGL的差值就是峰峰值。
数字测量的精度和采样的A/D有很大的关系,随着A/D的选用不同,精度可以做的很高。另外稳定性也要比模拟峰值检波高,避免了模拟期间不稳定或者漂移等因素的影响,减小了峰值检测的误差。
采用A/D采样的方法采集峰值,对于采样点数的要求也比较高。通常情况下,保持波形失真度小,要求波形至少由64个点组成(当然这个也要根据实际需要,若不需要精度很高可以适当减少点数)。也就是说对于20M采样率的A/D,能处理的频率最多也只能达到312.5KHz,因此限制了数字测量方法的测量频率范围。
下面介绍的一种数字峰值测量方法,是依据等效采样的原理,能利用较低采样率的A/D采样频率甚至比A/D采样率高很多的信号的峰值。
基于等效采样的数字峰检
本峰值检波电路基于信号频域频谱搬移理论,采用两个特殊频率(双频)对信号先后完成采样,互补采样中的“盲区”,通过采样的最大值提取得到周期信号的峰值。这种方法可以兼顾高低频,全幅度段达到良好的线性。可以做到0.1Hz~100MHz频率段,同时,此检峰原理很有研究价值,变换灵活,在具体设计电路时考虑实际频率段的需求来做设计,可以将此电路的性能应用的灵活自如。
频谱搬移理论分析
Fs为信号抽样频率,Fx为被抽样信号的频率,N为采样点数。对于任意周期信号要采完一个周期才能确定其峰值。分析当Fs=10KHz时,对于1Hz的任意周期信号要采完一个周期才能确定其峰值,那就是要采样10000个点,即N=10000。对全频带内信号分析:进采样以后的信号频谱也是成周期性的,即以Fs频谱搬移。对于[0,Fs]内的频谱就可以包含信号的全部信息,即对于[0,Fs]区间来说有且仅有一根信号有效频率成分对应的谱。所以,当我们可以采样[0,Fs]信号的全部峰值时,就可以断定全频带的信号都可以采到峰值。
很明显,Fs为10KHz时,0~1Hz的信号是没有采全一个周期的,就没发判断任意周期信号的峰值了,我们将这段区间定义为盲区。
所以,搬移到整个频域,每个频段内都存在一部分信号采样的盲区,在盲区里,系统无法判断是否采到了信号的最大值。
(0~Fs)频谱盲区分析
Fs=10KHz进行信号抽样时,频谱上信号的盲点在-1Hz~+1Hz,同样,搬移后,盲点也会搬移。根据采样定理分析,信号频谱关于nFs对称(n=…-3,-2,-1,0,1,2,3….),基于这个对称关系得知,信号频谱在nFs左右的(-1Hz~+1Hz)都是采样信号盲区。同时,根据信号频谱分布理论,信号也关于Fs/2对称(证明略),所以可以得出,信号频谱关于nFs/2的整数被对称。
(0~Fs/2)频谱盲区分析
基于信号关于nFs/2也对称,分析信号频谱在(0~Fs/2)内的盲点。明显可以判读当Fs=10KHz,Fx=5 KHz时候是采不到信号幅值的。因为信号在5KHz左右也有盲区。与采样Fx=10KHz的信号不一样,它的盲区在5KHz旁边的(-0.5Hz~+0.5Hz)。比较两种采样,如果用等效采样看待这个问题是很好理解的。如下图所示:第一个波形就是实时采样采信号的示意图,第二个图是等效采样的示意图,通过步进t的采样重组波形。
Fx=10KHz时,采样盲点为(-1Hz~+1Hz),将其重组波形,等效于采(-1Hz~+1Hz)的周期信号,所以采不到信号的一个周期值,及盲区为(-1Hz~+1Hz)。而对于Fx=5KHz的信号同样用10KHz的抽样率采值,在波形重组时可以看出在5KHz左右的(-0.5Hz~+0.5Hz)是盲区。如Fx=5.005KHz的信号经Fs=10KHz采样时,采点N=10000时正好可以重组出一个周期波形来。可以得出结论,Fs=10KHz时,在Fs/2的旁边存在盲区,且只有(-0.5Hz~+0.5Hz)。这与Fs旁边的盲区相比,宽带缩短里一半。
图 实时采样和等效采样图
(0~Fs/n)频谱盲点分析
同上面的推到类似,很容易想到信号在Fs/3,Fs/4的时候同样存在盲区,在信号频率为Fs/4时,盲区在Fs/4的两边(-0.25Hz~+0.25Hz)的范围内。在matlab里仿真,如Fs=10K,Fx=2500.25Hz,N=10000时
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