元器件可靠性老化实验总结.pdf

可靠性老化评估测试 一、从生产线上抽取合格的产品作为测试样品 样品规格：2N60,3N60,4N60,4N65,7N60,8N60 抽样标准：GB2828 样品数量：各 200Pcs 测试时间：2011.7.20—9.19 二、可靠性老化测试 1，测试项目：高、低温存储试验 测试名称 低温存储试验 环境温度 25℃+/-1%℃ 环境湿度 34%H 判定标准 外观，性能参数是否正常 测试条件 低温-55℃保持 72 小时 测试结果 合格 测试名称 高温存储试验 环境温度 25℃+/-1%℃ 环境湿度 34%H 判定标准 外观，性能参数是否正常 测试条件 高温 150℃保持 72 小时 测试结果 合格 2 ，测试项目：高、低温循环试验 测试名称 高低温循环试验 环境温度 25℃+/-1%℃ 环境湿度 34%H 判定标准 外观，性能参数是否正常 测试条件 高温 150℃，低温-40℃，循环测试 10次，共 60 小时 测试结果 合格 3，测试项目：高低温冲击试验 测试名称 高低温冲击 环境温度 25℃+/-1%℃ 环境湿度 34%H 判定标准 外观，性能参数是否正常 测试条件 高温 160℃，低温-50℃，循环测试 15次，共 24 小时 测试结果 合格 4 ，测试项目：恒温恒湿试验 测试名称 恒温恒湿 第 - 1 -页 共 页 环境温度 25℃+/-1%℃ 环境湿度 34%H 判定标准 外观，性能参数是否正常 测试条件 温度 85℃，湿度 85%，共 72 小时 测试结果 合格 5，测试项目：高温高压蒸煮试验 测试名称 高温高压蒸煮 环境温度 25℃+/-1%℃ 环境湿度 34%H 判定标准 外观，性能参数是否正常 测试条件 温度 120℃，压力 0.2Mpa，共 96 小时 测试结果 合格 三、配合整机试验 1、2N60 1）、冲击短路试验 样品规格：2N60 抽样标准：GB2828 样品数量：50Pcs 测试项目 冲击试验 测试设备 AC SOURCE,电子负载，专用电源板 测试条件 AC 270V,Pin=25W,冲击次数 20 次 判定标准 MOS 管是否失效 试验结果