光缆技术规格及熔接技术规范.doc

光纤光缆技术规范 规范制订依据为YD/T901-2001及YD/T769-2003标准制订 1 光缆中光纤技术指标 1.1本公司生产的光缆采用G.652D A级优质单模光纤,其主要技术指标如下: 1.2模场直经 1310nm波长 9.2±0.4um 1550nm波长 10.5±0.5um 1.3包层直经: 125.0±1.0um 1.4 芯同心度误差: ≤0.6um 1.5包层不圆度:1% 1.6折射率系数 1310nm: 1.4675 1550nm: 1.4681 1.7截止波长 　λc (在2m成缆上测试): ≤1250nm 　λcc (在22m成缆上测试): ≤1260nm 1.8光纤衰减系数 在1310nm处:≤0.35db/km 在1550nm处:≤0.22db/km 其中在1285~1330nm波长范围内,任一波长上光纤的衰减系数与1310nm波长范围上的衰减系数相比,其差值不大于0.03db/km。 另外，在1480~1580nm波长范围内，任一波长上光纤的衰减系数与1550nm波长的衰减系数相比，其差值不大于0.05db/km。 1.9衰减不均匀性 在光纤后向散射曲线上，任意500m长度上衰减值与实测衰减值与全长度上平均500m的衰减值之差的最坏值不大于0.05db 1.10色散系数 1.10.1零色散波长为1300~1324nm之间范围 1 .10.2零色散斜率Soman＜0.093Ps/(nm2.km) 1.10. 3在1288~1339nm范围内,最大色散系数幅值＜3.5Ps/(nm..km) 在1271~1360nm范围内,最大色散系数幅值＜5.3Ps/(nm.km) 在 1550nm处色散系数＜18Ps/(nm.km) 在1480～1580nm范围内色散系数不大于20ps/nm.km 1.11宏弯损耗 对单模光纤(B1.1，B4),以37.5mm半经松绕100圈后在1550nm波长上测得的弯曲附加衰减不大于0. 5dB/km，当用于STM－64系统时，在1625nm波长上测得的弯曲附加衰减也应不大于0.5dB。 1.12光纤光缆高低温度衰减特性 在-40~+80℃时,衰减变化＜0.05dB/km 1.13光纤在束管中为全色谱标识,光纤着色采用紫外光固化,可以做到颜色不迁移、不褪色。 1.14偏振模色散 光缆的偏振模色散不大于0.2ps/km1/2。 2光缆的机械特性 光缆允许拉伸和压扁力 项 目 技 术 要 求 拉 伸 受力情况 短暂（敷设时） 长期（工作时） 缆中光纤允许应变% ＜0.1 无残余应变 允许拉力 N ＞3000 ＞1000 压扁,允许拉力 N ＞3000 ＞1000 注:括号中数值为直埋光缆要求. 2.1　总则 下列规定的各试验方法及其试验条件用于验证光缆的机械性能，其试验结果符合规定的验收要求时，判为合格。 机械性能试验中光纤衰减变化的监测宜按YD/T629.1《光纤传输衰减变化的监测方法　第一部分：传输功率监测法》规定在1550nm波长上进行，在试验期间，监测系统的稳定性引起的监测结果的不确定性应优于0.03dB。试验中光纤衰减变化量的绝对值不超过0.03dB时，可判为无明显附加衰减。允许衰减有某数值变化时，应理解为该数值已包括不确定性在内。 光纤拉伸宜采用GB/T15972－A7A规定的相移法进行监测，其系统的精确度应优于0.005%，试验中监测到的光纤应变不大于0.005%时，可判为无明显应变。光缆拉伸应变采用机械方法或传感器方法进行监测，其系统的精确度应优于0.05%，试验中监测到的光缆应变不大于0.05%时，可判为无明显应变。 2.2　拉伸 试验方法：GB/T7424.1－E1《拉伸》； 卡盘直径：不小于30倍光缆外径； 受试长度：不小于50m； 拉伸速率：10mm/min； 拉伸负载：见上表； 持续时间：1min； 验收要求：在长期允许拉力下光纤应无明显的附加衰减和应变；在短暂拉力下光纤附加衰减应＜0.1dB和应变＜0.10%，在此拉力去除后，光纤应无明显的残余附加衰减和应变，光缆也应无明显残余应变，护套应无目力可见开裂。 2.3　压扁 试验方法：GB/T7424.1－E3《压扁》； 负载：见上表； 持续时间：1min； 验收要求：在长期允许压扁力下光纤应无明显附加衰减；在短暂压扁力下光纤附加衰减应＜0.1dB，在此压力去除后光纤应无明显残余附加衰减，护套应无目力可见开裂。 2.4　冲击 试验方法：GB/T7424.1－E4《冲击》； 冲锤重量：管道或架空光缆为450g，直埋和水下光缆为1kg； 冲锤落高：1m； 冲击次数：至少5次； 验收要求：光纤应无明显残