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答案： 第1题 试题答案：D 试题解析： 离散分布的概率函数Pi应满足两个条件。即Pi≥0，P1+P2+…+Pn=1 第2题 试题答案：A 试题解析： 均值是用来表示分布的中心位置；方差用来表示分布的大小；标准差也是表示分布的大小的。 第3题 试题答案：B 试题解析： 对于A项，两点分布的方差为b（1-p）；对于C项，均匀分布的方差为（b-a）2/12；对于D项，对数正态分布的方差为。 第4题 试题答案：C 试题解析： 数据变换可改变直方图形状。 第5题 试题答案：B 试题解析： 三大抽样分布是指t分布，F分布，还有X2分布。 第6题 试题答案：A 试题解析： 设事件A=“随机取4个，全是合格品”，则有： P（A）= 第7题 试题答案：D 试题解析： X～P（0.5），即P（X=x）= 所求概率为P（x=0）=e-0.5=0.6065 第8题 试题答案：D 试题解析： 在δ未知场合对正态均值作双侧假设检验时，其拒绝域应在t轴的两侧，具体是|t|＞t1-α/2(n-1)。 第9题 试题答案：B 试题解析： 误差平方和用组内平方和表示。 第10题 试题答案：A 第11题 试题答案：D 第12题 试题答案：B 第13题 试题答案：C 第14题 试题答案：A 第15题 试题答案：B 第16题 试题答案：B 第17题 试题答案：A 第18题 试题答案：A 试题解析： 1931年休哈特出版了他的代表作：《加工产品质量的经济控制》，这标志着统计过程控制时代的开始。 第19题 试题答案：B 第20题 试题答案：D 试题解析： 泊松分布包括单位不合格数控制图和不合格数控制图。 第21题 试题答案：B 试题解析： x-Rs图的适用范围包括检验费用高的产品。 第22题 试题答案：A 试题解析： Me-R控制图与-R图很相似，只是用中位数Me图代替均值图。由于中位数的确定比均值更简单，所以多用于现场需要把测定数据直接记入控制图进行控制的场合。这时，为了简便，自然规定n为基数。 第23题 试题答案：B 第24题 试题答案：C 第25题 试题答案：C 第26题 试题答案：D 第27题 试题答案：D 第28题 试题答案：A 试题解析： 过程最终合格率与流通合格率的区别是，RTY充分考虑了过程中子过程的存在，即隐蔽工厂的因素。故A项正确。 第29题 试题答案：C 试题解析： 流通合格率RTY旨在提高企业的“过程质量能力”，过程合格率则是衡量企业的“制造能力”，故正确答案为C。 第30题 试题答案：C 试题解析： 作业层次的标准化是表示作业顺序的一种方法。单就HOW（如何做）规定出的有关内容就可认为是标准了，含有4W1H（除去“为什么”Why）的话，就可以认为非常完全了。对于完成作业的方法，没有“为什么”也许是可以接受的，但对于员工却是不可缺少的内容，因为他们需要了解为什么要这么做。 第31题 试题答案：ABCE 试题解析： D应是必然有最大子集，不是可能。 第32题 试题答案：AB 第33题 试题答案：BCE 试题解析： 正态标准差σ的1-α置信区间为它依赖于样本标准差s（或样本方差）和X2分布的分位数。 第34题 试题答案：ABCD 试题解析： 方差分析的一般步骤如下： (1)计算因子A的每一水平下数据的和T1，T2，…，Tr及总和T； (2)计算各类数据的平方和，，T2； (3)依次计算ST，SA，Se； (4)计算各均方及F比值并列出方差分析表； （5）对于给定的显著性α，将求得的F比与F分布表中的F1-α（fAfe）比较，为F＞F1-α（fA，fe）时认为因子A是显著的，否则的话就认为因子A是不显著的。 第35题 试题答案：BCE 试题解析： 首先求得各水平下数据和分别是：30，10，10，10，数据总和为60，各水平下数据的均值分别为6，2，2，2。由于这里各水平下数据的均值都是整数，从而使离差很简单，所以求Se可以直接利用公式： 计算。首先将离差列成表格 水平 A1 -1 2 1 -2 0 A2 -2 -1 0 1 2 A3 0 -2 1 1 0 A4 1 0 0 0 -1 则 SA按计算公式计算 ST按计算公式计算比较麻烦，我们可以利用等式ST=SA+Se直接可得结果88。 第36题 试题答案：ABCD 试题解析： 用正交表安排实验时，一般应考虑如下几步： （1）明确实验目的， （2）明确实验目标， （3）确定因子与水平， （4）选用合适的正交表，进行表头设计。 第37题 试题答案：CD 试题解析： 正交表的代号Ln（qp）中n表示用该正交表安排试验时需要进行n个不同条件的试验，q表示用该正交表安排试验时因子的水平数，p表示用该正交表安排试验时最多可安排的因子数。现在n=25。q=2,p=10。 第38题 试题答案：CD 试题解析：