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半导体物理实验报告
物理学院 12级电子3班 郭旭洪 学号:3112008307 合作者:冯嘉进
实验一 半导体的霍尔效应
实验目的
1、了解霍尔效应实验原理以及有关霍尔器件对材料要求的知识。
2、学习用“对称测量法”消除副效应的影响,测量试样的VH-IS和VH-IM曲线。
3、确定试样的导电类型、载流子浓度以及迁移率。
实验仪器
霍尔效应实验组合仪
实验步骤
⑴ 开关机前,测试仪的“IS调节”和“IM调节”旋钮均置零位(即逆时针旋到底)。
⑵ 按图1.2 连接测试仪与实验仪之间各组连线。注意:①样品各电极引线与对应的双刀开关之间的连线已由制造厂家连接好,请勿再动!②严禁将测试仪的励磁电源“IM输出”误接到实验仪的 “IS输入”或“VH、输出”处,否则,一旦通电,霍尔样品即遭损坏!样品共有三对电极,其中A、A/或C、C/用于测量霍尔电压,A、C或A/、C/用于测量电导,D、E为样品工作电流电极。样品的几何尺寸为:d=0.5mm ,b=4.0mm ,A、C电极间距l=3.0mm。仪器出产前,霍尔片已调至中心位置。霍尔片性脆易碎,电极甚细易断,严防撞击,或用手去摸,否则,即遭损坏! 霍尔片放置在电磁铁空隙中间,在需要调节霍尔片位置时,必须谨慎,切勿随意改变y轴方向的高度,以免霍尔片与磁极面磨擦而受损。
⑶ 接通电源,预热数分钟,电流表显示“.000”( 当按下“测量选择”键时 )或“0.00”(放开“测量选择”键时),电压表显示为“0.00”。
⑷ 置“测量选择”于IS挡(放键),电流表所示的值即随“IS调节”旋钮顺时针转动而增大,其变化范围为0-10mA,此时电压表所示读数为“不等势”电压值,它随IS增大而增大,IS换向,VH极性改号(此乃“不等势”电压值,可通过“对称测量法”予以消除)。
图1.2 实验线路连接装置图
⑸ 置“测量选择”于IM挡(按键),顺时针转动“IM调节” 旋钮,电流表变化范围为0-1A。此时值随IM增大而增大,IM换向,VH极性改号(其绝对值随IM 流向不同而异,此乃副效应而致,可通过“对称测量法”予以消除)。至此,应将“IM调节”旋钮置零位(即逆时针旋到底)。
⑹ 放开测量选择键,再测,调节,然后将“输出”切换开关倒向-侧,测量电压(电极间电压);换向,亦改号。这些说明霍尔样品的各电极工作均正常,可进行测量。将“输出”切换开关恢复一侧。
实验数据及处理
下表 IM=0.0600A IS取值范围为1.00-4.00mA
IS(mA) V1(mV) V2(mV) V3(mV) V4(mV) VH=(V1+V2+V3+V4)/4 1 -2.8 2.9 -2.8 2.9 -2.85 1.5 -4.3 4.3 -4.2 4.4 -4.3 2 -5.7 5.7 -5.6 5.8 -5.7 2.5 -7.1 7.2 -7.1 7.2 -7.15 3 -8.6 8.6 -8.5 8.7 -8.6 4 -11.5 11.5 -11.4 11.6 -11.5
1、测绘VH-IS曲线
下表 IS=3.00mA IM的取值范围为0.300-0.800A
IM(A) V1(mV) V2(mV) V3(mV) V4(mV) VH=(V1+V2+V3+V4)/4 0.3 -4.3 4.2 -4.2 4.3 -4.25 0.4 -5.7 5.7 -5.6 5.7 -5.675 0.5 -7.1 7.1 -7.1 7.2 -7.125 0.6 -8.6 8.6 -8.5 8.6 -8.575 0.7 -10 10 -9.9 10.1 -10 0.8 -11.5 11.5 -11.4 11.5 -11.475 2、测绘VH-IM曲线
3、测量Vσ值
在IM=0时,取IS=0.25mA,测得Vσ=-18.85mV
4、确定样品导电类型
取IS=0.25mA,IM=0.6A,测得VA’A=-0.06mV
5、求样品的RH、n、σ、μ
RH=VHd/ISB*108=6.75*103(厘米3/库伦)
n=1/(|RH|e)=9.23*1014/cm3
σ=neμ=21(S/M)
μ=|RH|σ=1.41*103
实验二 半导体PN结的物理特性及弱电流测量
实验目的
1、在温室时,测量PN结电流与电压的关系
2、在不同温度条件下,测量PN结电流与电压关系并计算玻尔兹曼常数
3、掌握用运算放大器组成电流—电压变换器测量弱电流的方法
实验仪器及材料
1、PN结物理特性测定仪
2、测试电路
3、保温杯级温度计
实验原理
PN结物理特性及玻尔兹曼常数测量
由半导体物理学可知,PN结的正向电流-电压关系满足:
(2-1)
式(2-1)中I是通过PN结的正向电流,是不随电压
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