判断南桥坏的方法.docVIP

南桥芯片损坏的判断方法 1.打PCI A14的阻值，对地小于80欧为南桥坏。/ N! v/ X% o9 P6 |　　2.待机时，南桥烫手，为桥坏。（排除AGP供电管损坏。）! j! J??F! I% w) T3.南桥周围的滤波电容对地短路，为桥坏。: b4 h L3 j% c n??C8 Z4 T　　4.USB中间两根数据线的对地阻值，正常为600左右，如对地为0，为桥坏。6 { H W Y; b0 V9 a( T　　5.CMOS跳线中间脚对地短路。为桥坏。??x) c- P) A$ _) a??S% H; w S4 S　　6.1117中间脚有3.3VSB。无电压，为桥坏。（排除集成网卡和I/O） u8 v 7.1117中间脚对地短路，为桥坏。- ~ S$ s# O8 F! n }* r2 P* }% h. U, q2 G7 D+ w0 z+ m南桥发烫的维修要区别一个问题~就是南桥在什么情况下发烫!$ n. L9 t??U- c; s2 { 1）接上ATX电源，不触发的情况下南桥就发烫，一般95%可以判断为南桥击穿! H2 w( H??U8 Z　　这个时候一般SB5V/3.3V会有短路现象,打1117输出脚，阻值为0则南桥击穿!! }) P0 d: l! K M- U( }( z( h% G　　2)接上ATX电源，不触发时南桥没有温度,触发后南桥发烫!(一般情况伴随诊断卡上会显示无复位)# V. x( y2 A/ a5 ]/ s b: b　　一般常见于INTEL的大南桥，82801eb/db........等等~8 a$ w b. n5 [2 m* P. u6 }　　这个时候的原因是AGP的供电不正常！修复后一般南桥温度会正常！1 _$ F5 L80%是AGP供电MOS管击穿，或MOS控制极的IC不良!一般是LM324的运算放大器~银狐等杂牌产品会有一个WB1601A经常坏～造成无AGP供电!/ c7 {8 l9 q6 ?% ]2 s# a　　WB1601A只在杂牌主板中见过~网上找不到相关资料~8 X3 _5 w( B4 o7 O; E! s　　如果AGP供电正常后南桥还是发烫，一般可以通过打AD线来判断是否为南桥不良!6 Q Z4 [- E- z0 t! k0 l　　南北桥通讯电压MOS管不正常也会引起南桥发热~6 s6 m7 p) S( Q5 W, T3 S; i a, a??_2 }　　下面几个条件一般可以判断为南桥击穿：: I??}* h) h4 _??H* z　　1）SB3.3V对地短路或阻值小于80欧姆/ y; ?: p: B4 s8 K$ g5 \$ n+ w??i2 z　　2）CMOS跳线中间脚对地短路- F3 d3 A7 s( m$ ^　　3）接ATX不触发南桥发烫! t! ], R+ p??P　　4）对于ICH4和ICH5来说，打USB接口的对地二极体值也是很重要的测量依据!尤其是因为插拔USB设备造成不能触发的!特别注意usb两条线路的阻值!当然要排除USB口自身短路!另外USB线路上的排阻排容也会影响!(这招维修笔记本的用的很广泛!我也是跟笔记本维修的哥们学会的!不过忘记加上来了!) Y( C2 }% V( W　　想更准确的判断南桥击穿可以通过打AD线来判断! S. `/ W+ d: G: @　　另外需要注意南桥相关测试点对地阻值不正常时要首先拆除网卡芯片后重新测量。? 自编主板关键测试点供大家参考 来源：迅维网 触发故障1： ATX第9脚5VSB，PCI槽A14脚3.3VSB，3,3VSB 一般由1117或1084MOS管转换6 u j4 R9 L# v- F1 V( a: ~4 W/ w? ?? ???2：CMOS跳帽2.5V以上电压: n5 r8 {/ o7 K4 x? ?? ???3：触发排针2.5V以上电压，6 e+ ^, o/ o t0 j+ c# b) e0 ^ X? ?? ???4：南桥晶振32.768是否起振（有压差）. J4 S8 O+ G+ b? ?? ???5：查IO0 ~0 m \5 r/ A( E2 J??p- ~??K? ?? ???6：查南桥5 a$ z8 r9 W2 l2 `5 L0 v M2 m: x! `/ @! k触发后主板必须有的电压（775主板为例), k+ z??i3 U3 m3 x. h6 |( x? ?? ???1:待机3.3VSB8 V t# f, t7 m, l+ }9 @? ?? ???2:VDDQ/AGP倒数第三脚(inter芯片组南北桥供电1.5V) （SIS芯片组1.85V) (nvidia芯片组1.5V）2 I s/ g+ |+ U8 _- I/ o5 t7 s? ?? ??