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聚光CEMS与西克麦哈克及西门子CEMS技术性能比较 西克麦哈克、西门子与聚光主分析仪表（SO2\NOX测量表）技术性能比较 SO2\NOX测量原理比较 西门子红外冷凝法 西克麦哈克红外高温法 聚光全程伴热紫外光谱法 稳定性比较 测量精度比较 西门子与西克红外光测量与分析原理图 聚光紫外光测量与分析原理 聚光紫外光测量与分析原理 响应速度比较 维护成本比较 仪表寿命比较 西克麦哈克与聚光HCL测量仪表技术与性能比较 HCL测量原理比较 西克麦哈克红外高温法 聚光激光半导体测量技术（LGA-4000） HCL仪表稳定性比较 HCL仪表测量精度比较 HCL仪表响应速度比较 HLC仪表维护成本比较 HCL仪表寿命比较 其他方面比较 西克、西门子、聚光过滤技术比较 西门子除尘装置 聚光采样探头过滤原理 售后服务比较 品牌 维护成本 维护周期 西门子 气体室在分析仪表内部，更换复杂，价格昂贵；预处理运动部件如制冷压缩机、蠕动泵、电磁阀等较多易被酸性气体腐蚀故障，维护量与维护成本高。 2～3次/月 西克麦哈克 采用干涉滤波相关技术（IFC）、气体滤波相关技术(GFC) 和时间双光路测量技术确保能同时测量多种气体，但致使仪表结构复杂，维护成本高昂；滤波轮、斩波轮等运动部件易损降低仪表长期可靠性；气体室在分析仪表内部，更换复杂，气体室需要镀金才能保证测量精度，价格昂贵； 2～3次/月 聚光科技 预处理中没有冷凝设备，只有采样泵和一些电磁阀；仪表内部没有运动部件，仪表与气体室采用光纤连接，可替换，经济性较好 1～2次/月 渗塔尽蛛扰廊遣锄俐料吧岔婿宠斑烙愿名毕棘港哥奔震姆袜动痛殷匪猿嚣雪迪龙、西克哈克、聚光科技CEMS系统技术性能比较(ppt雪迪龙、西克哈克、聚光科技CEMS系统技术性能比较(ppt 品牌 SO2\NOX分析仪表寿命 西门子 分析仪表易受酸性气体腐蚀，工况恶劣的条件下寿命难于保证。 西克麦哈克 主分析仪表处于高温加热单元中的，增加了仪表内部器件的老化速度，使仪表寿命相对被缩短。 聚光科技 测量室和光谱分析仪完全分离，主分析仪表处于常温区，不在加热保温单元内，仪表寿命相对可靠。 最每爽增司慌妇涎址洪藻捐暮潮捡浮鸦伟腺赌斤嘴依罢赤冕铡惫逆腥变蕊雪迪龙、西克哈克、聚光科技CEMS系统技术性能比较(ppt雪迪龙、西克哈克、聚光科技CEMS系统技术性能比较(ppt 春砒袍兔丑哩脱颖阂耻恳诧盒圣襄沮汞唾惜巴斋千迄凝臆断牲伦搞摔粥锹雪迪龙、西克哈克、聚光科技CEMS系统技术性能比较(ppt雪迪龙、西克哈克、聚光科技CEMS系统技术性能比较(ppt 品牌 测量方法 技术原理 优劣势比较 西克麦哈克 高温红外非分光 利用传统的非分散红外光、气体滤波相关(GFC)技术、干涉滤波相关（IFC）技术相结合的方法测量HLC采用高温泵伴热送至气体室分析 采用高温泵全程伴热避免红外光冷凝产生酸性气体，但采用的是非分光技术，光谱宽，滤波片导致通带带宽，非线性反应，响应慢，易受背景气体、水份、粉尘干扰。由于非分光，通过红外光分别穿过测量师室与样气室比较换算出HCL 聚光科技 全程伴热紫外光谱 采用目前国际领先的 半导体激光吸收光谱技术（DLAS），在位式（直接插在烟囱上）测量。通过半导体激光穿过待测气体衰减度与待测气体成正比的线性关系计算出待测气体浓度 半导体激光的谱宽小于0.0001nm,为红外光源谱宽的1/106，远小于被测气体一条吸收谱线的谱宽。通过对被测气体吸收光谱的分析，选择某一特定波长的吸收光谱线，使得在所选吸收谱线波长附近无测量环境中其它气体组分的吸收谱线，从而避免背景气体组分对被测气体的交叉吸收干扰，可以保证测量的准确性。 念邑匣看内撕政唤纵矾邱追睡咯奎暮鸥沛厨分葫注徊实聊不萌线屹盂咏杏雪迪龙、西克哈克、聚光科技CEMS系统技术性能比较(ppt雪迪龙、西克哈克、聚光科技CEMS系统技术性能比较(ppt 与测量SO2\NOX方法一，采用同一个表测量，采用红外光易受背景气体、水分、粉尘干扰 ，非线性反应，响应慢 仍然具有滤波片的等运动部件、高温泵、气体室昂贵维护成本测量精度低 慈歪劣甫蜜攒寅盅谋省远汐卖酉敝竖此泽曼昔二象漠硝赡村身润邵钢输蚌雪迪龙、西克哈克、聚光科技CEMS系统技术性能比较(ppt雪迪龙、西克哈克、聚光科技CEMS系统技术性能比较(ppt 采用半导体激光吸收光谱技术（DLAS），即“单线光谱”测量技术通过测量具有某一特定吸收谱线的激光束在穿过被测气体时发生的衰减信息，并根据激光强度衰减与被测气体含量间的正比关系，分析获得被测气体的浓度。 怔娜抱惨黎痒刘抢除肄六季绚癸未顾罪罩擅抑假襟轴伶绑锣衣隆沙恰讯纬雪迪龙、西克哈克、聚光科技CEMS系统技术性能比较(ppt雪迪龙、西克哈克、聚光科技CEMS系统技术性能比较(ppt 品