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加速寿命和可靠性试验
LED
LED
LLEEDD加速寿命和可靠性试验
浙江省半导体照明测试系统工程技术研究中心
杭州远方光电信息股份有限公司光电科学研究所
摘要:LED的寿命和可靠性得到了业界的高度重视,但其试验方法极具挑战。目前
已有关于LED寿命试验的标准相继出台,然而不同区域的标准要求又有所不同。本
文分析了LED可靠性和寿命相关的关键指标,并以北美体系和国际电工委员会(IEC)
体系为主线,介绍了LED加速寿命的试验方法。同时还介绍具有我国自主知识产权
的LED加速老化和寿命测试系统能够满足现有各种标准要求,实现方便、快速、精
准的智能化试验。
1.
1.
11.. 概述
随着近年来LED光效的不断提升,LED的寿命和可靠性越来越受到业界的重视,
它是LED产品最重要的性能之一。寿命是可靠性的终极表现,然而LED的理论寿
命很长,像传统光源采用2h45min开、15min关的循环测试到寿命终了,对LED
[1]
产品的测量显然不现实。因此有必要对LED产品采用加速老化寿命试验 ,同时,
也应当测试LED的热学特性、环境耐候性、电磁兼容抗扰度等与寿命和可靠性密切
相关的性能,以综合分析LED的寿命。
2. LED
2. LED
22.. LLEEDD可靠性和寿命相关的关键指标
LED产品制造中的每一个元件和环节都会对其可靠性和寿命产生影响,例如,
LED结和基板的虚焊、LED荧光粉的热猝灭和退化、封装材料的退化以及驱动器的
失效等,最后退化的可能才是半导体(PN结)本身。这些因素导致LED产品失效
(退化)的方式也不尽相同,一般可分为缓变退化(gradual degradation)和瞬变
退化(abrupt degradation)。
LED的缓变退化(失效)指标主要包括:
流明维持率下降,即光衰,一般以初始光通量为100%,当LED产品的流明维
持率下降到初始值的70%或50%时,认为LED失效,流明维持寿命相应记为L50
或L ;
70
颜色漂移,受到荧光粉或封装材料的变化,LED的颜色会在寿命期间内发生漂
移,该漂移应在指定范围以内(如△u’v’≤0.007),超过范围则视为LED失效;
电性能变化,电性能变化能更为直观地监测;
开关次数,开关可能会对驱动等电路产生一定影响;
热阻变化和其它热特性参数曲线,热特性与寿命息息相关,对热特性的测量和
分析有助于找出LED可靠性的薄弱环节;
LED的瞬变退化(失效)即LED的光输出突然降为0,其主要退化包括:抗电
磁干扰能力:静电放电、雷击浪涌、快速群脉冲、周波跌落;高低温冲击耐受性特
性;盐雾、耐湿、振动等。
3.
3.
33.. 相关标准要求
针对LED的主要缓变退化,国际上已有相关标准相继发布,以是北美体系和国
际照明委员会(IEC)体系最为典型,我国标准则基本融合了这两个体系。
• ENERGY STAR® Program Requirements Product Specification Eligibility
Criteria ;
• IES LM-80-08 Approved Method for Measuring Lumen Maintenance of
LED Light Sources;
• IES TM-21-11 Projecting Long Term Lumen Maintenance of LED Packages
• IEC/PAS 62717 LED modules for general lighting – Performance
requirements
• EC/PAS 62722-2-1 Luminaire Performance –Part 2-1: Particular
requirements for LED luminaires
• 我国的GB/T 24824、GB/T24823、QB/T4057 等
• 我国的GB/T XXXX LED加速寿命试验方法(尚未发布)
3.
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