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GaN功率放大发展状态评测-AnalogDevices.PDF

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GaN功率放大发展状态评测-AnalogDevices

技术文章 GaN功率放大发展状态 Walt DeMore 评测 ADI公司工程经理 但硅的热导率和电导率相对较差,抵消了其在高性能、高可靠 | 分享至LinkedIn | 电子邮件 性应用中的成本优势。这些器件的栅极长度小至0.2 μm ,支持 ( 在毫米波频段工作。在许多高频应用以及所有低频应用 除对成 ) 摘要 本最为敏感的应用之外 中,基于GaN 的器件已经在很大程度 ( ) ( ) 上取代了砷化镓GaAs 和硅横向扩散金属氧化物半导体LDMOS GaN功率半导体技术和模块式设计的进步,使得微波频率 器件。 ( ) 的高功率连续波CW 和脉冲放大器成为可能。 RF功率放大器设计人员关注GaN器件,因为它们支持非常高的 ( ) 工作电压比GaAs高三到五倍 ,并且每单位FET栅极宽度容许的 ( ) 氮化镓GaN 功率半导体技术为提高RF/微波功率放大的性能水平 电流大致是GaAs器件的两倍。这些特性对PA设计人员有重要意 作出了巨大贡献。通过减少器件的寄生元件,以及采用更短的 义,意味着在给定输出功率水平可以支持更高的负载阻抗。以 栅极长度和更高的工作电压,GaN 晶体管已实现更高的输出功 ( 前基于GaAs或LDMOS的设计的输出阻抗常常极其低相对于50 Ω 率密度、更宽的带宽和更好的DC转RF效率。例如,2014年已做 ) 或75 Ω的典型系统阻抗而言。低器件阻抗会限制可实现的带宽

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