Agilent PNA-X 系列微波网络分析仪 - 中国化工仪器网.PDFVIP

Agilent PNA-X 系列 微波网络分析仪 单台仪表 即可完成 器件的线性和 非线性特性表征 使用 PNA-X 即意味着您选择了网络分析仪领域内真正的领导者 PNA-X 系列微波网络分析仪是安捷伦科技在射频网络分析领域内长达 40 余年的技术领先地位和产品创新精神的巅峰之作。它们不仅仅是一款矢量网 业内最先进的射 络分析仪，在测量诸如放大器、混频器、变频器等有源器件方面，PNA-X 是 世界上集成度最高并且应用最灵活的测量引擎。 频测试解决方案 PNA-X 内部组合了两个高性能的激励信号源、宽带信号合路器、S 参数 和噪声系数测量接收机、脉冲调制器和脉冲源、一整套便于用户灵活使用的 微波开关以及测量路径接入点，这些强大的核心硬件为全面测量各种器件的 单台仪表即可完成 线性和非线性特性奠定了坚实的基础，并且完成所有的测量任务只需把被测 器件的线性和 器件 (DUT) 与 PNA-X 进行一次连接即可 ! 非线性特性表征 当今世界上只有 PNA-X 能够提供最多的测量功能 在射频和微波器件测量领域内，无论是在对同轴器件直接进行测量、还 是需要使用测量夹具进行测量、甚至是在对晶片上的器件进行测量的环境中， PNA-X 无一例外地能够做到把最快的测量速度、最精确的测量结果、最容易 使用的测量操作界面完美地结合在一起。这些测量功能包括 : ● S 参数 ( 连续波激励和脉冲激励 ) ● 变频增益/损耗 ● 噪声系数 ● 真正的差分激励测量 ● 增益压缩 ● 非线性波形和 X 参数 * 表征 ● 互调失真和谐波失真 ● 天线测量 PNA-X 网络测量技术一直可以应用到纳米测量领域 PNA-X 还可与安捷伦科技下述测量解决方案兼容使用 : ● 物理层测量系统 (PLTS) —对高速数字电缆、连接器、背板、印刷电路板 等线性无源互连部件进行校准、测量和分析的信号完整性测量解决方案。 ● 材料测量设备和附件 —通过测量材料的介电常数和导磁率来帮助您确定 所用材料与电磁场互相产生影响的方式。 ● 扫描微波显微镜系统 —这个获奖的纳米材料研究系统在纳米尺度非常有 效而独到地把经过校准的电容和掺杂密度测量结果与半导体材料的形貌测 量结果结合了起来。 不同测量频率范围的 PNA-X 为您提供最佳的选择 PNA-X所有强大的测量功能都可以应用在对 N5241A 10 MHz ~ 13.5 GHz 晶片进行测量的环境中。