质量管理理论与实物部分公式.docVIP

 常用分布表 １１概率函数或密度函数 均值 方差 二点分布b(1,p) P(X=x)=px(1-p)1-x,x=0,1.. p P(1-p) 二项分布b(n,p) P(X=x)= px(1-p)n-x,x=0,1..n np np(1-p) 泊松分布P() P(X=x)=, x=0,1,2.. 超几何分布h(n,N,M) P(X=x)=, x=0,1.r,r=min(n,M) 正态分布N() P(x)=, 标准正态分布N(0,1) 0 1 指数分布Exp() P(x)= 均匀分布U(a,b) P(x)= 对数分布LN() P(x)= []2[-1] 单个正态总体均值，方差的检验 检验法 条件 H0 H1 检验统计量 拒绝域 检验 已知 t检验 未知 检验 未知 检验 正态总体均值、方法、标准差的1-置信区间 参数 条件 1-置信区间 已知 未知 未知 未知 图： 总平均值： 极差： 平均极差值： 图的中心线及控制限: R图的中心线及控制限： 图： s图控制限： 图的控制限: c控制图： 图 移动极差控制图： 单值X控制图： u控制图： 图 极差控制图： 中位数控制图： 不合格品率P控制图： CP值的范围 级别 过程能力的评价参考 CP≥1.67 Ⅰ 过程能力过高(应视具体情况而定) 1.33≤CP＜1.67 Ⅱ 过程能力充分,表示技术管理能力已很好,应继续维持 1.00≤CP＜1.33 Ⅲ 过程能力充足,担技术管理能力较勉强,应设法提高为Ⅱ级 0.67≤CP＜1 Ⅳ 过程能力不足,表示技术管理能力已很差,应采取措施立即改善 CP＜0.67 Ⅴ 过程能力严重不足,表示应采取紧急措施和全面检查,必要时可停工整顿 态分布，性质1：设X～N(),则 性质2： 质量特性X的不合格率=+  总离平方和平方和： 组间平方和因子A的平方和： 组内平方和或误差平方和： ，, , b=Lxy,a=y-bx 相关指数： 标准残差： 正交表： 批不合格品率： 不合格品百分数： 超几何分布计算法： 二项分布计算法： 泊松分布计算法： 平均检验总数： 平均检出质量： 超过上限TU不合格品率： 低于下限TU不合格品率： 常规控制图 分布 控制图代号 控制图名称 正态分布 （计量值） 均值—极差控制图 均值—标准差控制图 中位数—极差控制图 单值—移动极差控制图 二项分布 (计件值) p 不合格率控制图 不合格品数控制图 泊松分布 (计点值) 单位不合格数控制图 c 不合格数控制图 过程相对稳定系数的评价参考 过程相对稳定系数 drσ的范围 评价 drσ10% 接近稳定 10%≤ drσ20% 不太稳定 20%≤ drσ50% 不稳定 drσ≥50% 很不稳定 短期过程能力指数与过程性能指数 符号 名称 计算公式 无偏移短期过程能力指数 无偏移上单侧短期过程能力指数 无偏移下单侧短期过程能力指数 有偏移短期过程能力指数 无偏移过程性能指数 无偏移上单侧过程性能指数 无偏移下单侧过程性能指数 有偏移过程性能指数 图： 总平均值： 极差： 平均极差值： 图的中心线及控制限: R图的中心线及控制限： 图： s图控制限： 图的控制限: c控制图： 图 移动极差控制图： 单值X控制图： u控制图： 图 极差控制图： 中位数控制图： 不合格品率P控制图： 正态总体均值、方法、标准差的1-置信区间 参数 条件 1-置信区间 已知 未知 未知 未知  CP值的范围 级别 过程能力的评价参考 CP≥1.67 Ⅰ 过程能力过高(应视具体情况而定) 1.33≤CP＜1.67 Ⅱ 过程能力充分,表示技术管理能力已很好,应继续维持 1.00≤CP＜1.33 Ⅲ 过程能力充足,担技术管理能力较勉强,应设法提高为Ⅱ级 0.67≤CP＜1 Ⅳ 过程能力不足,表示技术管理能力已很差,应采取措施立即改善 CP＜0.67 Ⅴ 过程能力严重不足,表示应采取紧急措施和全面检查,必要时可停工整顿 产品的可靠函数：R（t）=P(Tt) 累积故障分布函数：F（t）=P(T≤t)R（t）+ F（t）=1 故障率： 平均失效（故障）前时间： 平均故障间隔时间： =MTBF= 系统的故障率： 元器件计数法：，产品总的故障率，第i种元器件的数量，第i种元器件的通用故障率，第i种元器件的通用质量系数。 单边置信下限：，故障数，为试验时间。 鉴别比：, 为MTBF检验的