利用双压线性离子阱质谱仪多重解离技术对API杂质谱进行全.PDF

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2017-06-17 发布于江苏
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利用双压线性离子阱质谱仪多重解离技术对API杂质谱进行全

A p p l i c a t i 利用双压线性离子阱质谱仪多重解离技术 o n N o t 对API 杂质谱进行全面分析 e s 1 2 2 Theresa Lynch ; Kate Comstock ; Jack Cunniff 1 2 Gilead Sciences, 333 Lakeside Dr, Foster City, CA; Thermo Fisher Scientific, 355 River Oaks Parkway, San Jose, CA 前言（）活性药物成分 API 和成品药的杂质分析是药物研发中。