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微电子研究所研究生入学考试试题
北京理工大学
硕士研究生入学考试试题集
谢君堂编
信息与电子学院
2009-6-30
北 京 理 工 大 学 总号:032
(原北京工业学院) 分号:05——06
一九九九年研究生入学考试
半导体物理学 试题
请统考考生答(1)(2)(3)(4)(5)(6)(7)(8)(10)(12)十题;请单独考生答(1)(2)(3)(4)(5)(6)(7)(9)(11)(13)十题。
(1)(12分)解释下列名词:
a.直接跃迁与间接跃迁;
b.直接复合与间接复合;
c.费米能级与准费米能级
(2)(12分)说明以下几种效应及其物理机制,并说出其可能的应用:
a.霍耳效应;
b.光生伏特效应;
c.压阻效应。
(3)(8分)请按照你的看法,写出半导体能带的主要特征是什么?
(4)(8分)请你根据对载流子产生与复合过程的分析,得出在热平衡条件下,两种载流子浓度的乘积等于恒量(不需要通过对载流子浓度的计算)。
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北 京 理 工 大 学 总号:032
(原北京工业学院) 分号:05——06
一九九九年研究生入学考试
半导体物理学 试题
(5)(9分)什么是P-N结的雪崩击穿现象,请说明形成击穿的物理机制
(6)(9分)请画出以N型半导体为衬底的MIS结构,在不同栅压下的表面能带的形状与电荷的分布,同时给予 简要的说明。
(7)(10分)推导出P-N结的接触电势差的表示式。
(8)(10分)请设计一个使用半导体的利用太阳能致冷的电器,要求画出原理图,不要求设计细节。
(9)(10分)请利用温差电效应和帕尔贴效应构想一个既可加温又可致冷的电器。
(10)(10分)如果给你一块半导体样品,请你判断其导电类型,你采用什么办法?请说明你采用的方法的原理和实验的具体做法。
(11)(10分)请详细说明如何利用光电导的衰减测量少子的寿命(要求说明原理、仪器和测量方法)
(12)(12分)室温条件下考虑一个N型锗样品,施主浓度,样品截面积为,长为1㎝,电子和空穴的寿
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北 京 理 工 大 学 总号:032
(原北京工业学院) 分号:05——06
一九九九年研究生入学考试
半导体物理学 试题
命均为100μs。假定样品被光照射,且光被均匀地吸收,电子—空穴对产生率为,已知室温下,,,计算该半导体样品有光照时的电阻率和电阻。
(13)(12分)考虑室温下的两个硅样品,分别掺入浓度为N1和N2的硼杂质。已知室温下硅的本征载流子浓度为,而且有N1﹥N2﹥﹥。问:
a.哪个样口的少子浓度低?
b.哪个样品的费米能级离价带顶近?
c.如果再掺入少量的磷(设磷的浓度为N3,且N3< N2),两样品的费米能级又如何变化?
以上问题均应通过公式计算得出结论。
北京理工大学2000年硕士研究生入学考试试题
科目代码: 科目名称: 分号:
试题答案必须书写在答题纸上,在试题和草稿纸上答题无效,试题上不准填写准考证号和姓名。
请统考考生答:一、二、三、四、五、六、七、八、九、十、十二题。
请单独考试考生答:一、二、三、四、五、六、七、八、九题;十、十一题中任选一题;十二、十三题中任选一题。
解释名词(共16分,每小题4分)
载流子陷阱
PN结的热电击穿
欧姆接触
同型异质结与反型异质结
二.(8分)金属一半导体接触能否实现少子注入,为什么?
三.(8分)光电导效应的增强常用光电导增益因子来表示。如光敏电阻外加电压为V,电子迁移率为,电极间距离为ι,请据此导出光电导增益因子的表达式。
四.(8分)半导体中载流子在运动过程中为什么会
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