JB-T7786-1995_电力半导体器件检验抽样方法.pdfVIP

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JB-T7786-1995_电力半导体器件检验抽样方法

IT 7786- 1995 主题内容与括角 带 生规定子i 、追加抽q, 准适甩于 括模块 、组 或逐批 )检 或周期)试验和 定{ 交收悦拉, 飞 引用标准 G已2三二5 、 序及抽洋表 弓E Zs2s ! 序及抽作表 t二B 生弓8-11.1 任fo成电路总规范_ 犬 喜“ a}yullt:lffrL从T,二瓜 么 :卜;一橄器 、司一越竺:__工玉士见互 万戮 乏 我:批)蔺 立资-a:,3潺 肖 品 ︸ 。 长:履;` 一 川 跳 ,一厂包含耀侧 1车 4-, `k, 抽取加于f},;;a1M0粼 fr仁 ’ 祥本单泣为全渗 36、、大:、;-qGP量峥班筑愁 月 所包含娜泉妙数;- 厂r合洛 /品的溃氢扮跌不符合规定 8 不分路占是 一 或一个以二不合 位产品 。 3 9 每百单位产品 听育苏合 N、再乘 以 100.即 批中不合i4AA.e.v玲李 不合格品数 批 (N)一共龚粗 x.tur, 3‘“过履平 t- 量平均值 矛 票v9}P.;}黔r13 叨次谨泛燎胜兹七3 扶交检验判为不合格.经返匕后AID提交检验药批 机械工业邻 1995一10-09批准 1996--01-01实施 19 JB/T7786- 1995 3.11 合格质量水平(AQL) 在抽样检查中,认为可以接受的连续提交检验批的过程平均上限值. 3.12 检查。检验 用测量、试验或其它方法,把单位产品与技术要求对比的过程。 3.13 计数检查 根据产品技术标准规定的一组或一项技术要求,确定单位产品是合格品还是不合格品的检查。 3.14 逐批检查 为判断每个提交检验批的批质量是否符合规定要求,对每个批的单位产品进行百分之百或从批中抽 取样本的检查. 3.巧 周期检验 为判断在规定周期内(按时间规定,也可按制造的单位产品数量规定)生产过程的稳定性是否符合规 定要求,从逐批检查合格的某个批或若干批中抽取样本的检查。 3.1‘生产定型检查 为判断某一生产线能否成批制造符合规定质量要求的产品而进行的周期与逐批检查. 3.17批量生产检查 为判断某一生产线在生产定型检查通过后,能否继续保持成批制造符合规定质量要求的产品进行的 周期与逐批检查. 3.18合格判定数(Ac,c) 作出批合格判断,样本中所允许的最大不合格品数。 3.19 不合格判定数(Re,r) 作出批不合格判断,样本中所不允许的最小不合格品数。 3.20 判定数组 合格判定数和不合格判定数或合格判定数系列和不合格判定数系列结合在一起。 3.21抽样方案 样本大小或样本大小系列和判定数组结合在一起. 3.22 抽祥程序 使用抽佯方案判断批合格与否的过程。 3.23 一次抽样方案 由样本大小n和判定数组A〔c,Re〕或 。〔、r]

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