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JB-T7786-1995_电力半导体器件检验抽样方法
IT 7786- 1995
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JB/T7786- 1995
3.11 合格质量水平(AQL)
在抽样检查中,认为可以接受的连续提交检验批的过程平均上限值.
3.12 检查。检验
用测量、试验或其它方法,把单位产品与技术要求对比的过程。
3.13 计数检查
根据产品技术标准规定的一组或一项技术要求,确定单位产品是合格品还是不合格品的检查。
3.14 逐批检查
为判断每个提交检验批的批质量是否符合规定要求,对每个批的单位产品进行百分之百或从批中抽
取样本的检查.
3.巧 周期检验
为判断在规定周期内(按时间规定,也可按制造的单位产品数量规定)生产过程的稳定性是否符合规
定要求,从逐批检查合格的某个批或若干批中抽取样本的检查。
3.1‘生产定型检查
为判断某一生产线能否成批制造符合规定质量要求的产品而进行的周期与逐批检查.
3.17批量生产检查
为判断某一生产线在生产定型检查通过后,能否继续保持成批制造符合规定质量要求的产品进行的
周期与逐批检查.
3.18合格判定数(Ac,c)
作出批合格判断,样本中所允许的最大不合格品数。
3.19 不合格判定数(Re,r)
作出批不合格判断,样本中所不允许的最小不合格品数。
3.20 判定数组
合格判定数和不合格判定数或合格判定数系列和不合格判定数系列结合在一起。
3.21抽样方案
样本大小或样本大小系列和判定数组结合在一起.
3.22 抽祥程序
使用抽佯方案判断批合格与否的过程。
3.23 一次抽样方案
由样本大小n和判定数组A〔c,Re〕或 。〔、r]
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