A008通过扫描探针显微镜定量测定粘弹性.PDF

No.A008 通过扫描探针显微镜定量测定粘弹性 　　　　　　　样品的准备 　　　　　　结果与讨论 　　扫描探针显微镜可在观察样品表面形貌的同 　　测定了高分子样品A、B、C的相位位移。定 时进行物性成图。利用振幅变换法（AM法）的相 性分析可知样品A、B、C的粘性依次增大。 位对比像与相位像，可以用来研究样品表面的粘 　　图2所示为高分子与玻璃的分界面的AFM图 弹性（如图1所示）。但是通过相位像定量测量粘 像。图像左半部分为高分子，右半部分为玻璃。 弹性，在悬臂的应答及探针与样品间的相互作用 中，还有许多难点。 图2 　　本文介绍了一种再现性良好的悬臂励磁信号 左图为样品 与应答相位位移的方法。利用坚硬无粘性的样品 A、B的高分子 作为标准样品，确定相位位移的原点。 与玻璃分界面 的 凹凸像，右 图为相位像。 每张图像中， 左半部分为高 分子 ，右半 部分为玻璃。 图1 　　由各样品的相位像计算出的相位平均值与标准 相位像示例（聚合物混合）。表面形貌像（左图） 偏差如表1所示。玻璃比高分子坚硬且无粘性，作 不清晰，相位像（右图）则将三相清楚的分开。 为标准样品使用。 　　　　　　　　装置 表1 高分子部分的相位值及标准偏差 装置 ：SPM - 9600 测定模式 ：相位 悬臂 ：NCHR （Nanoworld） 40N/m(Typ.) 300kHz(Typ.) 图3 高分子样品 ：粘着剂（粘着胶带）3种 相位值的定量 标准样品 ：玻璃 相位值按以下公 式进行计算。 　　　　　　　　实验 V=sinδ× 1000