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一种基于格雷码的电路自测试序列分配算法-计算机学报
第卷第期 计 算 机 学 报
34 9
Vol.34No.9
年月
20119 Set.2011
CHINESEJOURNALOFCOMPUTERS p
一种基于格雷码的电路自测试序列分配算法
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孙海臖 王宣明卢晓博 邵志标
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1(郑州大学信息工程学院郑州 )
450001
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2(西安交通大学电子与信息工程学院西安 )
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摘要为了降低组合电路内建自测试的测试功耗提出了一种基于格雷码的测试序列分配算法分组式格雷码
.
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序列和种子序列相异或生成单跳变测试序列根据电路的基本输入权重合理分配测试序列位减少了电路内部节
, ,
点的跳变有效降低了电路的测试功耗该算法应用在改进的布斯二阶乘法器的自测试中根据不同的数据通道位
.
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宽相对于传统自测试架构测试功耗降低了 并且不影响乘法器的性能对 基准电路的
35.6%43.7% .ISCA85
~
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测试结果表明该算法降低了测试功耗具有高的故障覆盖率和少的测试长度与 相比功耗下降了
LFSR 59.3%~
, , ,
并且硬件开销小实验结果表明该算法有效降低了组合电路的测试功耗特别适合于系统级芯片内部模
97.3% .
块的内建自测试.
关键词功耗;内建自测试;权重;测试序列;格雷码
中图法分类号 号: /
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