单粒子翻转加固锁存器分析与辐照试验验证-微电子学.PDF

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单粒子翻转加固锁存器分析与辐照试验验证-微电子学

第 卷第 期 微 电 子 学 , 46 2 Vol.46 No.2 年 月 2016 4 Microelectronics A r.2016 p 췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍췍 ·产品与可靠性 · 单粒子翻转加固锁存器分析与辐照试验验证 , , , 12 1 1 12 12 , , , , 李天文 杨海钢 蔡 刚 李 悦 卢凌云 ( , ; 1.中国科学院 电子学研究所 可编程芯片与系统实验室 北京 100190 , ) 2.中国科学院大学 信息科学与工程学院 北京 100049 : 、 摘 要 对目前基于软错误屏蔽 施密特触发及双互锁单元结构的几种单粒子翻转加固锁存器进 , 、 、 。 行分析 并从面积 延时 功耗和抗单粒子翻转能力等方面进行综合比较 着重剖析了DICE结构 , , , 的多节点翻转特性 研究了敏感节点隔离对抗单粒子翻转能力的影响 设计了测试芯片 并进行了 。 , , 辐照试验验证 辐照试验结果表明 相比于其他加固锁存器结构 DICE结构的单粒子翻转阈值最 , , 。 , 高 翻转截面最低 功耗延时积最小 当敏感节点隔离间距由 增大到 时 结构 0.21 m 2 m DICE μ μ , , 。 的单粒子翻转阈值增大 翻转截面减小 面积增大 倍 在 结构中使用敏感节点 157% 40% 1 DICE , , 、 、 隔离可有效提高抗单粒子翻转能力 但在具体的设计加固中 需要在抗辐照能力 面积 延时和功耗 之间进行折中考虑。 : ; ; ; ; 关键词 辐照效应 单粒子翻转 锁存器

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