基于网络和阻抗分析仪评测13.56MHzRFID标签和阅读器来源互联网.doc

基于网络和阻抗分析仪评测13.56MHz RFID标签和阅读器 :互联网 RFID，也称为非接触 IC 卡或 ID 标签，能够检测和识别特定目标，而无需与目标直接接触。RFID 20世纪80年代起就开始使用，最初仅限于海上运输、交通信息系统及其它特殊应用。自20世纪90年代中期以来，RFID体积加速小型化，现已得到了广泛使用，并且目前已经出现了一些定义 RFID 频率、通信方法和目的的标准。本文针对批量生产的13.56MHz RFID标签和阅读器/记录器及其元器件，概述了评测其电气特征的方法。 RFID 概述 图 1 是一个简化的 RFID 系统模型。阅读器/记录器中的环路天线通过电磁耦合与RFID标签中的环路天线之间进行通信；阅读器/记录器输出射频信号，RFID 标签通过环路天线来接收该信号。RFID标签检测集成在IC芯片的检波器电路的直流信号，来获得能量并驱动IC芯片。阅读器/记录器和 RFID 标签间的数据通信一般使用频率为13.56 MHz的ASK调制。 图1. RFID简化系统 图2显示了一个典型的卡片式RFID标签制造流程。首先在卡片上通过印刷或其他方式形成环路天线，随后将IC 芯片和片状电容器安置在同一个卡片上。卡上的电容器也可以通过印刷方式来制作。最后，对该标签进行封装，测试和装运。 图2. RFID标签的制造过程 图 3 显示了一个完整的 RFID 电路图。通常来讲，RF ID 标签包括一个L-C-R并联电路(其中“L”表示环路天线，“C”表示片状电容器，“R”表示 IC 芯片）。RFID 标签的谐振频率 f0可用公式 1/（2π√LC) 来计算。如果RFID标签的谐振频率接近13.56 MHz，表示RFID标签能够与阅读器/记录器保持良好的通信。验证整个标签的谐振频率是否为13.56MHz是非常重要的。 图3. RFID标签的元件及其等效电路 同时，验证L和C元器件的特性也有助于提高整个RFID标签的产量。 另一个需要考虑的是谐振曲线的尖锐程度 (通信带宽)，通信带宽由 IC芯片的R值或环路天线的寄生电阻R值来确定。 当调制信号带宽过宽时，谐振曲线的尖锐程度过高，使通信难以进行；而另一方面，谐振的尖锐程度过低又会导致通信距离特征恶化。因此，必须全面地测量完整标签的谐振特征，并且逐步地测量电阻值，才能帮助改善RFID标签的通信性能。 元器件级测量 图4. 推荐的仪器和附件 RFID标签以及阅读器/记录器的射频部分由基本元器件L、C和R构成。4294A阻抗分析仪是测量这些元器件电气特性的最佳选择。 如果您不需要阻抗分析仪那么宽的阻抗测量范围，也可以使用网络分析仪，如配有选件005阻抗分析功能的E5061B-3L5 LF-RF网络分析仪。 RFID 标签没有同轴连接器，其多数元器件都带有电极或引脚。因此，把被测RFID标签连接至分析仪需要使用与标签形状匹配的测试夹具。如果RFID 标签卡上有环路天线，那么应当使用探头将标签连接至分析仪。 图 5 是一个对片状电容器和环路天线进行测量的示例。从这两个图可以看出，片状电容器和环路天线的谐振频点分别为100 MHz和30 MHz(大约值)。 ? ? 图5. 测量示例 每个单独的元器件只能在它自己的谐振频率以下使用。从图中可以看出，这些元器件在13.56 MHz时的测量结果为: C ≈ 204 pF，L ≈ 4.3 uH。这些值决定了标签整体的谐振频率。 在完成各个元器件的测试之后，你可以使用探头对整个RFID标签及其所有元器件的谐振特征进行测量。 图6. 使用阻抗探头测量RFID 用非接触法来测量谐振频率 如果 RFID 标签已经被封装，就不能使用探头对其进行测试了，这时您可以采用非接触法。在使用非接触法进行测量时，要把RFID标签放在与分析仪连接的环路天线的前面。这样，无需拆卸RFID标签即可测量其谐振频率。通常使用网络分析仪来进行非接触测量，这时可以通过查找反射系数 S11的负峰值或阻抗实部R的正峰值，来找到谐振频点。在有些情况下也可以通过S21的测量结果来查找谐振峰值。 图 7. 谐振频率的非接触测量 源功率高达+ 20 dBm RFID标签的谐振特征经常随着环路天线所传输的射频功率而变化，通常要求网络分析仪提供将近+20 dBm的源功率(大多数传统的网络分析仪无法提供)，E5072A网络分析仪是最佳选择。 E5072A可在300 KHz至1 GHz的频率范围内提供高达+20 dBm的源功率，可让您对 RFID 进行大功率 S11 测量和阻抗测量，且无需使用外部放大器。使用阻抗转换功能(Z: 反射)，您不仅能够测量 S11，还能够测量阻抗 R-X。在测量 S11或R-X时，如果源功率设置高达+20 dBm，建议在参考和测试接收机(RCVR R1 IN和RCVR A