是德科技L系列多端口机电同轴开关-Keysight.PDF

是德科技 L 系列多端口机电同轴开关 L7104A/B/C 和L7106A/B/C 端接 L7204A/B/C 和L7206A/B/C 非端接 直流至4 GHz, 直流至20 GHz, 直流至26.5 GHz 技术概述 2 | Keysight | L 系列多端口机电同轴开关－技术概述 产品概述 以适中价格提供的高性能多端 口开关 在如今竞争激烈的环境中，自动测试系统要求比以往有更高的精度和更好的性能。 – 保证重复使用200 万次后插入损耗仅 Keysight L 系列L7104A/ B/C 和L7106A/ B/C 端接型以及L7204A/ B/C 和L7206A/ B/C 非 为0.03 dB, 以确保提高测量精度和减少 端接型多端口开关在实现更高测试性能所需的插入损耗重复性和隔离度方面已获重大 校准次数。 改善。开关的长寿命、可重复性和可靠性通过减少校准次数和延长测试系统运行时间来 – 500 万次使用寿命, 典型值 削减拥有成本，确保了自动测试系统长期测量完整性。 – 卓越的隔离度可使测量精度最高, 并改 描述 进系统动态范围 L7104/ L7204A/ B/C SP4T 和L7106/ L7206A/ B/C SP6T 多端口开关为自动测试与测量、 – 适中的价格可使预算限制降至最低 信号监测和路由应用提供所需的使用寿命和可靠性。是德科技拥有严格的设计流程和 制造技术指标，可满足测试仪器和转换接口对于高可重复性转换元件的需求。这款开 关能够保证重复使用200 万次后插入损耗仅为0.03 dB (25 °C 时) ，可减少测量路径中的 随机误差，进而改进测量不确定度。开关使用寿命是生产测试系统、卫星和天线监测系 统以及测试仪器的一个关键考虑因素。开关的长寿命可以减少校准次数和降低维护成 本，从而能延长测试系统运行时间和削减拥有成本。 适用于微波和射频仪器及系统的高性能多端口开关 – SP4T 和SP6T 配置 – 磁性锁 – 保证重复使用200 万次后插入损耗为0.03 dB – 出色的隔离, 26.5 GHz 时85 dB (典型值) – 光电指示器和光电阻断 – 端接端口和非端接端口 – 兼容TT L/5V CMOS (可选) L7104A/B/C 50 Ω 端接型 6 5 3 2 C 射频端口 L7106A/B/C 6 5 4 3 2 1 C 图1. Keysight L7104A/ B/C 和L7106A/ B/C 简化原理图 3 | Keysight | L 系列多端口机电同轴开关－技术概述 产品概述 开关在直流至4 GHz (A 型号) 、20 GHz (B 型号) 和26.5 GHz (C 型号) 的工作频率范围内具 有维持信号完整性所需的卓越隔离度性能。端口之间的隔离度在12 GHz 时90 dB (典