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用于热障涂层氧化测量的复阻抗谱中等效电路参数的确定-湘潭大学
第 卷 第 期 湘 潭 大 学 自 然 科 学 学 报
27 2 Vol .27 No .2
年 月
2005 6 Natural Science Journal of Xiangtan University Jun .2005
用于热障涂层氧化测量的
复阻抗谱中等效电路参数的确定*
, , ,
1 2 1 2 1 2
杨 丽 , 卢 鑫 , 周益春
( 湘潭大学材料与光电物理学院,湖南 湘潭 ;
1. 411105
2 . 湘潭大学先进材料及流变特性教育部重点实验室,湖南 湘潭411105)
[摘要] 建立了热障涂层在不同氧化阶段的等效电路,确立了等效电路中各元件参数与阻抗表征值之间的关系,确定了
各元件的参数值,以达到对热障涂层微观结构以及 (其界面氧化物称为热生成氧化物( ))生长过程的检测 运用
TGO TGO .
EQU 软件模拟发现,等效电路阻抗谱与实测阻抗谱有很好的一致性,同时等效电路中参数值的计算与模拟的结果符合得
很好.
关 键 词:复阻抗谱;热障涂层;等效电路;参数
中图分类号: 文献标识码: 文章编号: ( )
O642 .5 A 1000 5900 2005 02 0089 09
Determination of the equivalent circuit parameters for
the impedance spectroscopy on
the oxidation measurement in the thermal barrier coating
, , ,
1 2 1 2 1 2
YANG Li , LU Xin , ZHOU Yi - chun
( , , ;
1. Faculty of Materials Optoelectric Physics Xiangtan University Xiangtan 411105 China
, ,
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