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第五章固体中之不完美性
第 五 章
固體中之不完美性
一掃描式探針顯微照片
(由掃描隊道顯微鏡拍
攝所得) 顯示矽元素之
(111)平面*。箭頭所指
之點為矽原子利用鎢奈
米尖端探針移除矽原子
之位置。此在表面上缺
一原子的情況非常類似
在體材料內部晶格位置
的空位缺陷。約略放大
20,000,000倍
第五章 固體中之不完美性 2
第 5 章
• 5.1 簡介 • 5.7 差排-線缺陷
• 5.2 金屬中的點缺點 • 5.8 界面缺陷
• 5.3 陶瓷中的點缺點 • 5.9 體缺陷
• 5.4 固體中的雜質 • 5.10 原子的振動
• 5.5 高分子中的點缺陷 • 5.11 一般原理
• 5.12 顯微鏡技術
• 5.6 成分表示法
• 5.13 晶粒尺寸大小之決定
第五章 固體中之不完美性 3
為什麼要研習固體中之缺陷?
• 材料的某些性質深受缺陷的存在所影響。因此,有關於缺
陷的種類,以及它們對材料行為影響所扮演之角色的知識
是非常重要的。例如,純金屬的機械性質,由經驗得知當
變為合金時(即不純原子加入)會有非常明顯的改變—例
如,英幣標準銀(sterling silver)(92.5%銀—7.5%銅)較純銀
硬且強度高(8.10節) 。
• 同時,嚴格控制不純物的濃度,令其加入半導體材料小範
圍且局部的區域內,使得積體電路微電子裝置可出現在我
們的電腦、計算器和家庭器具內(12.11節和 12.15節) 。
第五章 固體中之不完美性 4
5.1 簡介
‧許多材料的性質對偏離結晶完美性相當敏感;缺陷的影響
並非都是不好的,某些特定的性質經常可以藉由小心的導入
特殊缺陷並控制其數量來達到,接下來的章節將詳細討論。
‧「晶體缺陷」(crystalline defect )表示晶格具有以原子直
徑尺度來看,有一維或更多維的不規則性。
‧晶體的不完美性,通常可根據缺陷的幾何形狀或尺寸來分
類。本章將討論數種不同種類的不完美性,包括點缺陷(與
一個或兩個原子的位置有關)、線(或一維)缺陷和二維的
界面缺陷,或邊界缺陷 。
‧由於雜質原子可以點缺陷方式存在,所以在固體中的雜質
亦會討論。
第五章 固體中之不完美性 5
不同種類的不完美性
‧點缺陷:空位和自格隙
‧線缺陷(一維的):差排
‧面缺陷(二維的):外表面,晶界,相界,雙晶邊
界,疊差
‧體缺陷:孔洞、裂縫、外來的含有物和其他相
第五章 固體中之不完美性 6
5.2 金屬中的點缺陷 (Point Defects in Metals )
點缺陷: 空位和自格隙
圖 5.1 以二維表示一空位和
一 自格隙位置
第五章 固體中之不完美性 7
EQ
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