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第三章 片上螺旋电感的RLC 模型
[56]
片上电感的电感值随频率变化特性可以分为三个区域 ,工作区域(Ⅰ)、
自激荡前后区域(Ⅱ)、自激荡之后区域(Ⅲ),如图3.1 所示。区域(Ⅰ)是片
上电感真正工作区域,在该区域电感的L 值基本保持不变。在区域(Ⅱ),电感
的L 值由正值变为零(第一自激荡点),再变为负值。实际上,在第一自激荡频
率之上,片上电感已经表现为电容了。区域(Ⅲ)就是电感的容性区域,该区域
电感的品质因子为零。片上电感的区域(Ⅱ)的 L 值不稳定和确定第一自激荡
频率较困难使得其应用受到很大的限制。为了清楚地了解片上电感在区域(Ⅰ)
和(Ⅱ)的特性(品质因
子、串联电感值、第一自
激荡频率等),许多人提出
了各种各样的电感模型。
而在设计电路时,用电磁
场仿真工具能准确模拟
RF 频段片上电感的性能。
但是这些工具仿真时间
长、运算效率低,不利于
电路设计和性能优化。为 图3.1 片上电感的L 值随频率变化的特性(低阻硅衬底)
了简化模拟、缩短电路设
计周期,片上电感的RLC 集总电路建模成为国内外研究的热点。
3.1 电感模型参量计算
片上电感常常采用一端口形式或两端口形式应用于射频IC ,因而片上电感
(a ) (b )
图3.2 传统的单π 电路结构:(a )物理模型;(b )等效电路图
0
的集总模型也相应有两类:一端口和两端口模型。一端口应用时,片上电感一端
接地,一端接入电路;两端口应用时,电感两端都不接地而接入电路中。两端口
模型的一端接地便转化为一端口模型。
[43]
图3.2 中是片上电感的最常用的两端口单π物理模型 。该两端口π模型是
由片上电感的寄生电容和电阻组成的串联和并联支路所构成。串联支路由电感自
身的物理量组成,模型参数中Ls 表示片上电感的电感量,Rs 表示电感的串联电
阻,Cs 表示电感线圈内部间的边缘电容。两条对称的并联支路由衬底的寄生参
量构成,模拟了衬底的损耗。Cis 表示电感和衬底间的耦合电容,Csub 和 Rsub
分别表示衬底的电阻和电容。该模型能模拟电感导体的趋肤效应和衬底的损耗。
通过计算模型中各参量的值,可以准确模拟分析不同频段电感的性能。具体
的参量计算如下。
3.1.1 电感值Ls
片上电感的电感值 L 参数与多项结构参数(如外径、线宽、线间距等)和
工艺参数(金属材料、膜厚等)有关,如增加圈数N 或内径Din 和降低线宽W
或间距S 可使电感值增大,且电感值与N 和Din 密切相关。因而很难由已知结
构参数精确获得电感值,或由设计的电感值直接获得版图参数。这使得集成电路
的设计精确度、难度和周期大大增加。目前有许多种算法来计算片上电感的电感
值,如Greenhouse 算法、Jenei 算法和一些简化的Wheeler 公式、电流近似公式
和数值拟和公式等。本文针对其中的几种算法进行比较。
一、Greenhouse 算法[1]
1974 年,Greenhouse 基于经典的Grover 分立电感算法,提出了一种考虑互
感的精确算法计算片上电感的电感值。该算法分别计算每段电感的自感值 Lself
和互感值M ,将两者叠加后获得总的电感值Ltotal 。
1、自感的计算
[1]
常规直导体的自感计算公式为 :
2l AMD T
L0 0.002l[ln 1.25 ] (3.1 )
GMD l 4
其中L 是电感值(uH ),l 是导体长度(cm ),u 是导体磁导率。T 是频率修
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