Keysight Medalist i1000D 在线测试系统.PDF

Keysight Medalist i1000D 在线测试系统 技术资料 02 | Keysight | Medalist i1000D在线测试系统－技术资料 Keysight Medalist Keysight Medalist i1000D现在做得更 i1000 D 的数字子系统承继业内领先 i1000D 好。通过对以前仅有模拟ICT 状态的 Medalist i3070 ICT 的简洁性和强大能 改进，现在，系统新的数字卡采用每 力，使客户只需点击几次鼠标，就能 在线测试器(ICT) 通过 一引脚都可编程特征，新的整套直观 调整测试速度和驱动及接收电压。 为电子设备制造商提供 软件图形用户界面( GUI) ，从而使编 更容易和成本更低廉的 程和开发易如反掌。 数字器件测试而重新定 凭借其新的数字能力，M e d a l i s t 义了数字测试。 i1000 D 现在可以在一个低价的长线 测试夹具上执行基于数字PCF / V CL 库的测试，边界扫描和I2C / SPI 串行 编程。这就为正在寻找更好测试覆盖 而不增加成本的客户提供一个极好的 机会。 03 | Keysight | Medalist i1000D在线测试系统－技术资料 系统聚焦 易于使用 通过保留较早 U9 4 0 1/ 2A 款型简 只需使用全套菜单和按钮，用户就能 自动调试功能精心调整测试，使电路 单而直观的特点，新的 Me d a l is t 用简洁的GUI在调试过程中迅速改变 板能可靠地通过生产线。用统计测 i1000 D 软件库中增加了许多新的功 各项测试，从而完成自动调试功能。 量(CPK) 确定测试的稳定性。这种自 能，使数字测试的开发和调试就像 这样，无经验的用户即可很快开始使 动功能特性可把常规调试过程从几天 写A BC 那样容易。 用系统。 缩短到仅需几个小时。 遵循典型的制造缺陷分析仪的开发模 有了Medalist i1000D ，就能通过按一 式，用户现在只需短短几天时间， 个按钮调试不加电的无源模拟元件， 就能完成夹具，程序和上线运行。在 所以即使只有有限的ICT 操作经验， 需要进行数字测试时，只需用新的开 也能在几小时内完成全套模拟测试的 发者GUI 指定测试库和分配电源，而 调试。 让i1000D软件休息。 图1: 易于使用的测试开发者GUI甚至能让无经验的用户在几天内完成夹具和程序的部署。 04 | Keysight | Medalist i1000D在线测试系统－技术资料 系统聚焦 许多用户都认为数字测试很复杂， 字测试参数和测试源代码，因此参数 往往难以理解和调试。i1000 D 使事 和代码极易理解。其实现方式是把复 情为之不同。数字调试GUI承继传奇 杂的数字测试源代码行变成简单而容 式i3070按钮调试GUI 的控制方式和 易理解的图形化波形。工程技术人员 灵活性，工程技术人员能完全控制数 进行调试时不涉及大量的代码行。 图2 : 用Medalist i1000D 的图形界面容易地进行数字调试 05 | Keysight | Medalist i1000D在线测试系统－技术资料 VTEP v2.0 测试套件 iVT EP 所获奖项 i1000D 将减轻制造商面临的紧迫上市时间压力，他们能通过世界上最好的无 矢量测试解决方案迅速找到数字器件上的制造缺陷。