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前言纳米材料科学是20世纪末在材料科学领域中发展-仪器信息网
前 言
纳米材料科学是 20世纪末在材料科学领域中发展起来的一个新兴的研究
方向。由于纳米材料具有许多优良的特性诸如高比表面、高电导、高硬度、高磁
化率等,不仅备受材料工作者的青睐,在自然科学的其它领域也受到了极大的关
注。
纳米科学和技术是在纳米尺度上(0.1nm~100nm 之间)研究物质(包括原子、
分子)的特性和相互作用,并且利用这些特性的多学科的高科技。其最终目的是
直接以物质在纳米尺度上表现出来的特性,制造具有特定功能的产品,实现生产
方式的飞跃。纳米科学大体包括纳米电子学、纳米机械学、纳米材料学、纳米生
物学、纳米光学、纳米化学等领域。纳米科技是未来高科技的基础,而科学仪器
是科学研究中必不可少的实验手段。因此,纳米材料的分析和表征对纳米材料和
纳米科技发展具有重要的作用。
随着纳米科技的迅猛发展,纳米研究、纳米工程、纳米产品,其范围正在
扩大。虽然纳米科技主流技术全面进入产业化可能还需要相当长的时间,但是在
纳米材料等领域已经有一些技术正在进入产业化时代,特别是在一些传统产业的
改造和升级中,纳米科技已经发挥出了一些优势。纳米技术和纳米产品也在不断
地渗透进了我们生活的方方面面。各种产品的指标与计量、科研成果的测量与评
定、各学科和各领域的标准、测量仪器和测量方法等等都要与国际接轨,纳米计
量与测量技术已成为突出的重要的科学技术领域。
纳米技术与纳米材料是一个典型的新兴高技术领域,很多研究人员以及相
关产业的从业人员对纳米材料还不是很熟悉,尤其是对如何分析和表征纳米材
料,获得纳米材料的一些特征信息。为了方便纳米科技工作者的需要,本书对纳
米材料的一些常用分析和表征技术进行了归纳和总结。主要从纳米材料的成份分
析,形貌分析,粒度分析,结构分析以及表面界面分析等几个方面进行了简单的
介绍。并在书中,力图通过纳米材料的研究案例来说明这些现代技术和分析方法
在纳米材料表征上的具体应用。
第2 章 纳米材料的形貌分析
2.1 前言
2.1.1 形貌分析的重要性
材料的形貌尤其是纳米材料的形貌也是材料分析的重要组成部分,材料的很
多重要物理化学性能是由其形貌特征所决定的。对于纳米材料,其性能不仅与材
料颗粒大小还与材料的形貌有重要关系。如颗粒状纳米材料与纳米线和纳米管的
物理化学性能有很大的差异。因此,纳米材料的形貌分析,是纳米材料研究的重
要内容。形貌分析的主要内容是分析材料的几何形貌,材料的颗粒度,及颗粒度
的分布以及形貌微区的成份和物相结构等方面。
2.1.2 形貌分析的种类和适用范围
纳米材料常用的形貌分析方法主要有:扫描电子显微镜、透射电子显微镜、
扫描隧道显微镜和原子力显微镜。扫描电镜和透射电镜形貌分析不仅可以分析纳
米粉体材料还可以分析块体材料的形貌。其提供的信息主要有材料的几何形貌,
粉体的分散状态,纳米颗粒大小及分布以及特定形貌区域的元素组成和物相结
构。扫描电镜对样品的要求比较低,无论是粉体样品还是大块样品,均可以直接
进行形貌观察。扫描电镜分析可以提供从数纳米到毫米范围内的形貌像,观察视
野大,其分辩率一般为6 纳米,对于场发射扫描电子显微镜,其空间分辩率可以
达到0.5 纳米量级。透射电镜具有很高的空间分辩能力,特别适合纳米粉体材料
的分析。其特点是样品使用量少,不仅可以获得样品的形貌,颗粒大小,分布以
还可以获得特定区域的元素组成及物相结构信息。透射电镜比较适合纳米粉体样
品的形貌分析,但颗粒大小应小于300nm,否则电子束就不能透过了。对块体样
品的分析,透射电镜一般需要对样品进行减薄处理。扫描隧道显微镜主要针对一
些特殊导电固体样品的形貌分析。可以达到原子量级的分辨率,但仅适合具有导
电性的薄膜材料的形貌分析和表面原子结构分布分析,对纳米粉体材料不能分
析。扫描原子力显微镜可以对纳米薄膜进行形貌分析,分辨率可以达到几十纳米,
比STM 差,但适合导体和非导体样品,不适合纳米粉体的形貌分析。总之,这
四种形貌分析方法各有特点,电镜分析具有更多的优势,但STM 和 AFM 具有
可以气氛下进行原位形貌分析的特点。
2.1.3 形貌分析的新进展
需要补充
2.2 电镜形貌分析基础
2.2.1 电子显微镜发展历史
电子显微镜的发展历史可概括如下。1924年得布罗意(de Broglie)提出
波粒二象性假说。1926年布什(Busch)发现了旋转对称,不均匀的磁场可以聚
焦电子束。1933年柏林大学的克诺尔(Knoll)和卢斯卡(Rus
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