场发射透射电子显微镜（TEM）.PDF

场发射透射电子显微镜 （TEM ） 仪器基本信息 仪器中文名 场发射透射电子显微镜 仪器英文名 Field emission transmission electron microscope 仪器型号 JEM-3200FS 生产厂家 日本电子(JEOL) 工作状态 正常 主要技术指标 分辨率 点分辨率：0.19nm；线分辨率：0.10nm；能量分辨率：0.9eV 放大倍数 2,500～1,500,000 电子枪 肖特基场发射电子枪 加速电压 100/200/300kV 束斑尺寸 TEM 模式：2～5 nm Φ；EDS 、NBD 、CBD 模式：0.4～1.6 nm Φ 其他 聚焦长度：3.0 mm；最小聚焦步长：1.4nm；最大会聚角：±10º；球差系数：1.1 mm；色 差系数：1.8 mm；选区衍射相机常数：200～2,000 mm 主要配置与附件 相机 型号：Gatan 994 Ultriscan ； 像素：2048 ×2048 样品杆 超倾样品杆 （±80°倾转）；单倾样品杆；原位加热单倾样品杆 （RT～1300℃）；原位加 电样品杆 （0～5 V ）；原位拉伸单倾样品杆；真空转移杆 其他 电子能量损失谱及能量过滤成像系统；高角环形暗场探测器 (HAADF) ；明、暗场探测器； 扫描透射系统(STEM) ；NORAN System 7 X-射线能谱仪 (EDS) 功能用途及样品要求 功能及特点 主要用于分析金属、半导体、陶瓷、高分子、纳米材料的内部显微结构，可结合能量过滤 系统/X-射线能谱对材料进行微区成分分析；提供微米直到原子尺度的形貌、晶体结构、化 学成分、界面及晶体缺陷等方面的信息，广泛应用于化学、物理学、材料科学、地质学、 生物学、医学、高分子、环境科学等领域。 测样要求 几十纳米以下的薄层样品或者粉末，耐电子束辐照，没有磁性、放射性、毒性和挥发性。 联系方式 仪器安放地点 深圳大学城北大园区B 栋110 仪器负责人 付少杰 联系电话 158 1869 1906 Email fusj@pkusz.edu.cn 仪器预约与收费标准 预约说明 接受校内预约，校外预约请直接联系仪器负责人 收费说明 见价目表