基于蒙卡和粒子示踪程序的电子成像模拟分析A∫1-强激光与粒子束.PDF

第 卷第 期 强 激 光 与 粒 子 束 , 26 11 Vol.26 No.11 年 月 , 2014 11 HIGH POWERLASERANDPARTICLEBEAMS Nov. 2014 基于蒙卡和粒子示踪程序的电子成像模拟分析* , , , 12 12 12 王致远 , 杜应超 , 黄文会 ( , ; , ) 1.清华大学 工程物理系 北京 100084 2.清华大学 粒子技术与辐射成像教育部重点实验室 北京 100084 : , , 摘 要 借助理论分析和数值模拟 设计了基于高能电子束团的辐射成像系统 并通过 和 Geant4 GPT 。 , 软件对成像系统的相关参数进行了优化 模拟中分析了影响系统空间分辨率及物质厚度分辨率的因素 结果 , , 。 显示 模拟中设计的成像系统空间分辨率达到 μm量级 并且具有一定的厚度分辨能力 该设计指标满足对一 定厚度及结构的样品进行成像的要求。 : ; ; ; 关键词 电子成像 角分布 传输矩阵 像差 中图分类号: 文献标志码: : / O463.1 A doi10.11884HPLPB201426.114007 利用粒子束作为探针与物质相互作用来测量物体内部详细结构是当前进行精细结构详细测量的主要手 。 、 、 。 段 常见的探针包括 射线 质子束 电子束及中子束 以电子束作为探针进行物质详细结构测量常用于不 X , , , , 同类型的电子显微镜 在该类型应用中 电子束能量较低 通常为几十 keV至几 MeV 所研究的样品厚度小于 。 , ( ) μm量级 针对爆炸驱动的动态过程成像研究 美国洛斯阿拉莫斯国家实验室 LANL提出了基于高能电子束 [] 1 。 , 流的辐射成像方法并开展了验证实验研究 当前在该类研究中 高能 射线和高能质子束是常用的诊断探 X