实验六 一轴晶干涉图像的观察.ppt

* 一、目的要求 学会锥光镜的装置，认识一轴晶不同切面的干涉图像特征并测定一轴晶的光性符号 实验六 一轴晶干涉图的观察 二、方法原理 垂直光轴切面光性的测定方法 实验六 一轴晶干涉图的观察 二、方法原理 垂直光轴切面光性的测定方法 实验六 一轴晶干涉图的观察 二、方法原理 斜交光轴切面光性的测定方法 实验六 一轴晶干涉图的观察 图像相当于垂直光轴的一部分，也即斜交光轴切面的干涉图是由不完整的黑十字和不完整的干涉色圈组成。这种切面也可用于确定轴性及切面方向测定光性符号，但关键是需要确定光轴出露点及对应的四个象限。其判别方法同垂直光轴切面干涉图。 二、方法原理 斜交光轴切面光性的测定 实验六 一轴晶干涉图的观察 光轴倾角不大时，光轴出露点仍在视域中心，四个象限也比较清楚，很容易判别 二、方法原理 斜交光轴切面光性的测定 实验六 一轴晶干涉图的观察 光轴倾角较大时，光轴出露点已不在视域中心也没有黑十字存在，只有一根黑带。这种情况下，需要确定光轴出露点位置及象限归属，然后才能判别相应性质。 三、主要实验仪器和材料 XP-213型偏光显微镜（每人1台） 石英垂直于OA切面、平行于OA切面、斜交OA切面、方解石垂直OA切面薄片各一片（每组） 实验六 一轴晶干涉图的观察 四、实验内容 1.观察石英垂直OA切面干涉图特点，并使用石膏试板测定光性符号 ； 2.观察石英斜交OA切面干涉图特点，并使用石膏试板测定光性符号 ； ； 3.观察石英平行OA切面干涉图特点； 4.观察方解石垂直OA切面干涉图特点，并使用石膏试板测定光性符号 实验六 一轴晶干涉图的观察 *