融合编译功能的组合电路测试集生成方式.pdfVIP

2014钲 3 月 郑 州 大 学 学 报 (工 学 版 ) Mar． 2Ol4 第 35卷 第 2期 JournalofZhengzhouUniversity(EngineeringScience) Vo1．35 No．2 文章编号：1671—6833(2014)02—0065—05 融合编译功能的组合 电路测试集生成方式 李天义 ，富 坤 ，耿跃华 ，徐 丹 (1．河北工业大学 计算机科学与软件学 院，天津 300401；2．河北工业大学 电气与 自动化学院，天津 300130) 摘 要 ：通过研 究一些组合 电路测试仪器 中测试集的生成方式 ，提 出一种融合 了编译功能的组合 电路 测试集生成方式．该测试集生成方式将编译原理与测试集生成算法相结合 ，解决 了组合 电路测试仪器 中 被测芯片类型不易扩充、硬件 电路设计复杂等难点问题 ．从被测芯片的功能表达式入手 ，详细阐述其词 法 、语法 、语义的分析过程 ，并以临界通路法为例 ，给 出了该测试集生成方式 的详细设计方案 ，最后根据 该设计 方案设 计 出基 于 STC89C52芯片的组合 电路测试 系统 ，并给 出了该测试 系统的性能测试 结果． 关键词 ：编译原理 ；临界通路法；组合电路 ；测试集 中图分类号 ：TP314；FP39 文献标志码 ：A 源程序翻译为等价的 目标程序 ，实现一种语言的 0 引言 翻译 ，以便 目标机器执行 ．利用编译程序 的这 目前 ，高校的数字电子实验教学大都 以TTL、 一 思想 ，结合组合逻辑电路的测试集生成方法，将 CMOS等标准的集成电路器件为基础 ，使用前 编译功能的输入 、产出与测试集生成方法的输人 、 必须判断集成芯片是否已经损坏 ，以确保教学实 产出进行等价 比拟，得出比拟对象为 ：高级语言源 验顺利进行 ，为此 ，各大高校和企业纷纷设计出各 程序 比拟为组合逻辑电路功能表达式；目标程序 自的数字芯片检测装置，以达到快速检测该错误 比拟为测试电路 的测试集和结果集 ；中间的运算 的目的 川 ．经过研究发现 ，这些数字芯片检测设 变化过程 即为笔者提出的融入编译功能的测试集 备虽然有效地简化了芯片测试方式和步骤 ，但仍 生成方式． 有很多不足之处亟待解决．(1)被测芯片数 目固 该测试集生成方式 的主体部分由文法分析过 定．各种检测设备中，被测芯片种类受测试集的限 程和算法结合过程构成．其逻辑结构如图 1所示． 制不能够动态的扩充．(2)下位机设计 电路复杂． 文法分析过程 中，功能表达式是按照一定规 一 些设备需要设计电路选择模块来选择要测试的 则输入的字符 串；词法分析程序利用识别功能表 芯片 ，使得下位机电路的设计更为复杂 ，增加了不 达式 的有限 自动机对功能表达式进行逐一扫描和 必要 的电路开销． 分解 ，判断功能表达式是否含有非法字符 (即 笔者从被测芯片测试集的生成方式人手 ，采 未按照表达 式书写规则书写的字符)；语法分析 用编译原理 的基本思想与测试集生成算法相 程序利用文法分析表对功能表达式进行分析 ，判 结合 ，通过被测芯片的功能表达式直接动态生成 别其是否为完善 的表达式 ，并产生相应 的归约动 测试集和结果集的生成方式 (简称生成方式)，经 作序列 ．算法结合过程 中，根据对应文法产生 程序验证该生成方式有效地解决 了上述问题． 式的函数 ，利用归约动作序列生成相应表示芯片