第一章 ls230激光粒度仪(实验).ppt

第二篇 仪器分析 第一章 LS230激光粒度仪 贝克曼库尔特公司简介 1954年由库尔特本人创立 1997年与贝克曼公司合并, 新公司为贝克曼库尔特公司 全球最大的颗粒分析仪器制造商, 专业从事颗粒分析仪器的研究、开发、生产。 库尔特颗粒分析仪器简介 颗粒计数器--Z系列 颗粒粒度分析仪 库尔特原理粒度仪--MS3、Z2 激光粒度仪--LS系列 纳米颗粒粒度仪--N4PLUS 颗粒比表面及孔隙分析仪 生产应用型---SA3100 研究应用型---OMNISORP系列 Zeta电位分析仪 业务特点及售后服务 产品优势---四十余年颗粒分析经验，领先技术 直销优势---不通过代理公司，直接销售 维修工程师---专一产品维修，长期稳定 维修件供应---国内设有保税仓库，保障及时 激光粒度仪特点 一次性分析粒径范围宽 速度快、重现性好 样品适用范围广，配有各种样品台 适于分析的样品 各类粉体颗粒---金属、非金属及复合材料 悬浊液中颗粒物---包括透明或不透明的软、硬性颗粒 乳化液中乳珠 激光粒度仪分析原理 颗粒的光散射现象 散射光的两个区域 衍射理论的应用 不同颗粒的区别 激光粒度仪光路图 不同的光强图反映各自粒度分布 小结 以上是激光粒度仪粒度分析的原理，在此原理基础上各厂家开发的激光粒度仪 ---或由于瞄准不同的客户市场 ---或由于技术开发的原因 而采用不同的成本与技术投入，使得各品牌粒度仪性能参差不齐 性能差异主要表现在 1、探测器数量与排布方式 2、激光种类与对焦方式 3、小颗粒检测方法 4、亚微米颗粒测量技术 5、样品台--进样系统的进样好坏与操作区别 1、探测器数量影响 什么是解析通道 实测通道、虚拟通道及对粒度报告的影响 用混合标准颗粒验证 探测器排列方式 2、激光种类及对焦方式 3、小颗粒检测方法 库尔特双透镜专利技术 4、亚微米颗粒测量技术 衍射理论被限制的原因 一般的大角度散射分析技术 理论依据--为什么采用多波长？--为什么采用偏振光强度差？ 粒径大小在入射光波长10%~60%范围内的颗粒，对入射光产生较强散射光，因此采用多种波长的光逐段进行分析库尔特可有效去除其它颗粒的干扰光 颗粒越小，其对水平和垂直两种方向的偏振光散射光强度差异越大，反之亦然，所以偏振光强度差信号使分辨率获得提高 因此，6个角度检测器所获信号的纯度和信息量都大大提高 偏振光技术与其它技术对比 光路图对比 贝克曼库尔特激光粒度仪 5、进样系统-(1)通用样品台 5、进样系统-(2)标准样品台 自动工作站 适于批量样品分析用户，省时、省力，真正实现全自动分析 减少了样品制备过程中人为的误差因素 特点 5、进样系统-(3)微量样品台 5、进样系统-(4)危险品样品台 5、进样系统-(5)干粉样品台 LS230型: 0.04-2000um 132枚检测器， 116个解析通道 LS200型: 0.4-2000 um 126枚检测器， 92个解析通道 LS100Q型: 0.4-1000um 126枚检测器， 72个解析通道 LS通用样品台，适合各种介质和有机溶剂PH3-11 库尔特全自动样品台 LS标准样品台，适合各种介质和普通有机溶剂 库尔特全自动标准样品台 工作台 28个自动旋转式样品管插槽 2个分散剂插槽 塑料样品管，可自动被清洗、取出 工作能力 自动向样品管中加入分散介质 自动向样品管中加分散剂 自动向样品台的样品池中加样 自动对样品进行超声处理 条码识别样品，也可通过旋转插槽识别样品 LS微量样品台，适合各种介质和有机溶剂及少的样品量 LS危险品样品台，适合易燃爆介质 * * 颗粒对入射激光产生散射光，利用检测器探测散射光强度，计算颗粒粒度分布 黑暗中手电筒的光束，在各个角度可以被看到，是因为空气中颗粒对光在各个角度产生散射 小角度强散射区域，又称喇叭体衍射区域，可用衍射理论处理 大角度弱散射区域，遵循散射规律 颗粒大小决定了?角度， 根据此角度可计算颗粒直径 第一级暗斑 ? 颗粒径d=1.22?/Sin? ? ? 角度 大颗粒 小颗粒 0 0 ? ? ? ? 小角度检测器 大角度检测器 检测器光强图----由各组份颗粒叠加的光强图 ? ? ? ? 0 0 体积% 体积% 粒径 粒径 ? ? 0 ? ? 0 拥有的真实解析通道多 拥有的真实解析通道少 体积% 小于累积 0 0 20% 40% 60% 80% 100% 粒度报告给出各粒径颗粒拥有的数量/体积%含量，这里的粒径是某一粒度范围的平均值，这个粒度范围既是一个粒径通道 检测器少的粒度仪，实测通道少，各通道粒度宽，只能通过合成多个虚拟通道来提高解析度，但结果是： 粒度报告失真，趋近正态分布 检测器多的粒度仪，实测通道多