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光功率CPK 产品TW2362F-CDEH-BD 消光比CPK 从目前的数据看，光模块F1测试站整体CPK偏低。制程能力很差，光功率分布很离散，不成正态分布，很多数据分布在Margin边沿，稍微误差就会信号不良。 影响模块重测率高的主要因素 1.光路校准异常 1.光路校准异常主要体现在：1）.白晚班换线时的光路校准、产线的正常更换跳线时的光路校准---如果在F1站没? 有把光路校准好，即便是调试OK，在F2站也会测试不过，主要涉及到研发反复更改模块调测试的参数指标问题，100%影响整个模块的性能，反复重测率占40%左右。2.测试机台设备的本身性能有超出指标的影响因素，造成在光路校准或F1测试异常误判重测。3.校准光路时使用到的标准管和机台间的差异，标准管的本身性能直接影响到整个模块在测试阶段的测试结果（标准管的端面、测试跳线的端面）。 2.物料异常 1.事业部确认芯片SY7312(PN:201001000429)问题造成电流大，不稳定（重测率占20%）；2.UX方案的芯片3328（PN：201099000431）短时间内上报不稳定，长时间较稳定，因F2站测试时间比较短10S，没有等芯片稳定情况已测试完成，造成上报不稳定以及重测试（重测率占20%）。3.来料存在潜在性能不稳定因素，例如BOSA来料之前和之后的性能参数转变（小概率）； 3.制程异常 1.直流线体生产，存在F1站未经过测试流入下工序F2站被误测。2.检查员工是否执行SOP情况未到位（擦拭光纤、插拔模块手法，插模块与扫描的顺序等）3.检查操作台环境未到位（灰尘、垃圾等） 4.测试环境 1.安捷伦仪器设备随着车间温度影响，性能稳定性直接影响到测试环境不稳定，重测率随机占10%以上。 经与工厂品质、工程的共同分析确认，造成目前CPK偏低的主要原因为： 【案例3】威谊法兰盘插入损耗CPK分析 从数据上看，威谊法兰盘的插入损耗值的分布不均匀，CPK0.74,说明威谊的制程或物料质量不稳定，质量控制有问题。 谢谢各位! 制作：梁彬 日期：2014-03-22 制作：某某部 时间：2011-1-1 CPK应用 一、CPK的定义 二、CPK的典型应用 三、CPK的计算方法 四、CPK应用案例 工程师 2小时 梁彬 掌握CPK基本应用，做好过程质量管控。 培训目的 培训对象 培训讲师 学习重点 培训课时 CPK，Process Capability Index，制程能力指数。其实质作用是反 映制程合格率的高低，用一個数值来表达制程的水准。制程能力强才可能 生产出性能优良、一致性好、可靠性好的产品。 背景： 为使我司产品的成熟度、直通率提升一个台阶，首先要做的就是提高 我们的衡量标准，业界非常成熟的管理方法是Cpk的应用，也是开展6sigma的基础。 一、CPK的定义： 二、CPK的典型应用 (1)单边规格 指只有规格上限和规格中心或只有下限 或规格中心的规格，此时数据越接近上限或 下限越好。如考试成绩不得低于80分，或浮 高不得超过0.5mm等。 (2)双边规格 指有上下限与中心值,而上下限与中心值 对称的规格，此时数据越接近中心值越好。 如D854前加工脚长规格2.8±0.2mm; 简单认识Sigma Sigma （大写Σ，小写δ）是第十八个希腊字母。用来衡量一个总数里标准误差的统计单位。一般企业的瑕疵率大约为3到4个西格玛，以4西格玛而言，相当于每一百万个机会里，有6210次误差，如果企业不断追求品质改进，达到6西格玛的程度，绩效就几近乎于完美地达到顾客要求，在一百万个机会里，只找得到3.4个瑕疵。 USL即规格上限 LSL即规格下限 C 规格中心 X=(X1+X2+… …+Xn)/n平均值 （n为样本数） T=USL-LSL规格公差； δ（sigma）为样本的标准差，表示公式如下： Ca (Capability of Accuracy) ：制程准确度 衡量“实际平均值”与“规格中心值”之一致性。 对于单边规格，不存在规格中心，因此也就不存在Ca; 对于双边规格: Ca定义及公式 Ca示例： Cp (Capability of Precision) ：制程精密度 衡量“规格公差宽度”与“制程变异宽度”之比例。 Cp定义及公式 1.对于只有规格上限和规格中心的规格： 2.对于只有规格下限和规格中心的规格： 3.对于双边规格： Ca好,Cp好 系统误差小 偶然误差小 Ca差,Cp高 系统误差大 偶然误差小 Ca高,Cp差 系统误差小 偶然误差大 Ca差,Cp差 系统误差大 偶然误差大 Ca与Cp分布情况对比图 Ca是制程准确度 Cp是制程精密度 CPK的计算公式: CPK=Cp*（