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SR-SIM超分辨率结构照明镜显微镜系统操作手册
SR-SIM超分辨率结构照明镜显微镜系统操作手册
SR-SIM原理:
结构照明是一个宽视场技术,其中,受栅格图案的衍射级的干扰,产生通过在拍摄图像的同时叠加在样品上,栅格图案被捕获的每个图像组在步骤之间的移动或旋转。高频信息用反傅里叶算法处理之后,可以从原始数据中提取以产生一个重建的图像,横向分辨率大约提高两倍,衍射限制范围在150和300纳米之间的轴向分辨率。
SR-SIM超高分辨率显微镜开机步骤:
注意:所有带三角警示标记的保育器开口都要关紧,避免激光照射!
Zeiss SR-SIM镜头配有10X/dry、63X/1.46Oil、63X/1.57Oil、100X/1.57Oil
ELYRA S.1 软件基本操作流程
SR-SIM Workflow-Acqisition(图像获取)
目镜找视野
图像获取
注意:通常405nm的激光需设置较高的参数!
获取三维图像
2.SR-SIM Workflow – Processing(图像处理)
3.最亮点投影
此时得到的图片为不同z轴上最亮点的投影。
Zeiss ELYRA S1 通道校正(Channel Alignment)操作流程
Acquire:使用200nm荧光小球获取SIM图像
Process:SIM图像处理
Process:Channel Alignment通道校正
Use:使用校正结果
样品为具有四种荧光通道、200nm直径的标准荧光小球。有以下两个样片:
样品编号 所匹配的物镜 0000-1783-455 63X/1.4 Oil,100X/1.46 Oil 0000-1788-601 100X/1.57 Oil
注意:
物镜及样片需要仔细清洗!
在实验前。需将样品放置在开启的系统中稳定30分钟至60分钟。
需使用与物镜折射率相匹配的镜油。
具体操作流程见下图:
Acquire SIM Image 获取SIM图像
使用200nm的荧光小球
2.生成SIM图像
3.通道校正
注意:在校正完成之后,请立即保存结果!
4.如何保存校正表格
点击Apply后出现下列表格
注意:出现表格后立即保存,系统不会自动保存!
如何使用校正结果
取消钩之后会出现新的表格
2
2.打开前部绿色电源
1.将UPS后部电源往上扳
5.打开载物台电源
4.打开显微镜电源
6.打开汞灯开关
3.打开两个拖线板电源
7.打开电脑
4.观察完毕后点击Oculars offline
1.选择Locate选项卡
2.选择Oculars online
3.选择BF(明场)或者Fset77(荧光)
Fset77为双色滤片,能同时观察488nm,561nm
2.选择需要的rotation ,一般选5次
1.选择需要的图像分辨率
10.温度提示为红色时,仪器不能使用。等仪器降至相应温度方可使用
9.如有多通道可通过点击加号增加通道,每个通道重复步骤1-8
8.选择相应的伪彩
4. EMCCD增益(EMCCD Gain)为40,并在此基础上调节
3. 曝光时间为100ms,并在此基础上调节
2.通常设置激光强度为2,并在此基础上调节
1.选择相应的激发波长
6.在勾选所需要的激光波长之后,系统会自动选择最佳的光栅(基于所选择的物镜和激发光)
使用者仍可以手动改变所需的光栅
5. 点击SIM选项卡
7. 手动选择所需的滤片(系统不会自动选择)
10.点击Continuous进行预览并调节参数
11.点击Snap进行单张图片活图
1.选择Center
6.选择需要的张数,一般为10-21张
5.点击Smallest数值
4.点击Interval
2.将图像调节至焦平面,点击Center
3.点击向下箭头
7.点击Start Experiment开始获图
1.点击Processing
2.
选择Structured Illumination,
点击右边的小三角,以展开条目.
选择Structured Illumination
3.选择需要处理的SIM图像
4.点击Select
7.点击Apply
6.选择SR-SIM+Wild field
5.点击Automatic
4.点击Apply
3.点击Select
1.点击Maximum intensity projection
2.点击需要处理的图像
6.EMCCD Gain:30-50
4.激光强度:488nm,561nm:2-5%;405nm,642nm:4-10%
5.Exposure time:100ms
3. 建议案顺序依次设置642-561-488-405
2.选择5 rotation
1.选择需要的物镜
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