反射率测量仪 - global-optosigmacom.PDF

反射率测量仪 SGRM‐200N 可实现微小区域和曲面的反射率测量。可实现微小区域和曲面的反射率测量。 可直接测量未经处理的透明薄板的反射率，并能几乎不受底面反射的影响；可快速高精可直接测量未经处理的透明薄板的反射率，并能几乎不受底面反射的影响；可快速高精 度测量曲面和平面的反射率。度测量曲面和平面的反射率。 • 采用了特殊结构的半透镜，能高效地收集被测试样的反射光，并高效地导入分光光度计，可快速地完成低反 射率样品的测量。 • 采用了特殊的光学结构，有效地避免了底面反射的影响，可直接测量未经处理的透明薄板的反射率。 (使用20倍物镜时，可测最小透明薄板厚度可达0.3mm） • 采用了特殊卤素灯和独创的光学设计，其有效光量大，获取数据快，重复精度高。 • 测量点小(典型值为φ50μm)，可直接测曲面，以及膜层的分布特性。 • 结构紧凑，体积小，不占空间。 • 可用Microsoft Excel®文件格式保存测量数据。 • 可在同一窗口内，同时显示多个样品的测量结果(曲线)，方便数据的对比分析。 测试结果显示例 反射率 透过率 ⾊度 膜厚 型 号 SGRM-200N 测定波长范围 380～1050nm 0.22(使用10倍物镜时) 样品侧NA 0.44(使用20倍物镜时) 测量光斑尺寸 约φ25μm（使用10倍物镜时） 样品的曲率半径 -2mm～-∞,+2mm～∞ ±0.2%(380～450nm) 再现性精度 ±0.02%(451～950nm) ±0.2%(951～1050nm) 显示分辨率 1nm 测量时间 数秒（受选定的采样时间影响） 外形尺寸 270(W)×465(D)×615(H)mm (本体） (不含突出部） 工作温度范围 18～28℃ 工作湿度范围 60％以下（无结露现象） /cn/ 反射率测量仪 SGRM‐200N 物镜(标准配置) 物镜(可选项) 标准白色板 波长校正板 10倍物镜 20倍物镜 1.25倍物镜 WS-3(可选项) V-30(可选项) UPLFLN 10x LUCPLFLN PLAPON 1.25x ※测量颜色用基准板 ※校正波长时使