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大规模集成电路总剂量效应测试方法初探-物理学报
第 卷 第 期 年 月 物 理 学 报
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大规模集成电路总剂量效应测试方法初探
贺朝会 耿 斌 何宝平 姚育娟 李永宏 彭宏论 林东生 周 辉 陈雨生
(西北核技术研究所,西安 信箱 分箱,西安 )
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( 年 月 日收到; 年 月 日收到修改稿)
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提出了初步的大规模集成电路总剂量效应测试方法。在监测器件和电路功能参数的同时,监测器件功耗电流
的变化情况,分析数据错误与器件功耗电流变化的关系及其总剂量效应机理。给出了大规模集成电路:静态随机
存取存储器( !
)、电擦除电编程只读存储器( )、闪速存储器( )和微处理器( )的 总
)*+, --.*/, 01+)2 */, 3.4 35 !
剂量效应实验的结果6
关键词:测试方法,总剂量效应,大规模集成电路
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积累到一定程度时,器件功能失效 因此,这种现象
6
称为电离总剂量效应 图 所示为典型的 晶
#9 引 言 6 # ?,/)
体管()和 晶体管()的电流 电压( )特性
; @,/) A B !B
随着半导体器件集成度的不断提高,大规模集 曲线随辐射电离总剂量的增加而逐渐漂移的过程6
成电路越来越多地应用在航天器上6 空间辐射环境 图中未画出界面陷阱电荷的影响,界面陷阱电荷会
中的带电粒子和电子在集成电路中产生的电离总剂 使曲线的斜率减小 图中横坐标为栅极电压( ),
6 =
量效应,严重影响航天器的可靠性及在轨寿命6
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