糖的基质辅助激光解吸电离质谱.PDF

V o l. 19 高 等 学 校 化 学 学 报 N o. 7　 1 9 9 8 年 7 月 　　　　　　 CH EM ICAL JOU RN AL O F CH IN E SE U N IV ER S IT IE S　　　　　 1090～ 1094　 糖的基质辅助激光解吸电离质谱( - ) 研究 M ALD I M S 郝春雁　 马秀俐 　 刘志强　 季怡萍　 刘淑莹　 刘长城 　孙允秀 　刘举正 ( ) 中国科学院长春应用化学研究所, 长春, 130022; 吉林大学化学系 , 长春, 130023 摘要　 通过糖类化合物 3 种常用基质 分析效果的比较以及寡糖和多糖正、负离子 M ALD I M S 谱的对比, 找到了适合糖分析的基质 2, 5 , 探讨了糖类化合物激光解吸电离条 M ALD I M S DHB 件下形成离子的过程, 指出了 + 、 + 离子在寡糖分子量测定中的重要作用, 借助柱层析分离手 N a K 段, 成功地测出了分子量大于 10 000 的葡聚糖的分子量. 关键词　基质辅助激光解吸电离质谱( ) , 寡糖, 多糖, 分子量 M ALD I M S 分类号　 629. 1 O 近年来, 人们对糖类化合物的生理功能有了新的认识, 糖类化合物继蛋白质、核酸之后, 成为生命科学领域中的又一研究热点. 糖的性质与其分子量大小密切相关, 因此糖分子量特 别是多糖分子量分布的测定, 在糖类化合物的研究和应用中, 有着重要的意义. 传统的多糖 分子量测定方法, 如渗透压法、粘度法、光散射法、凝胶色谱法等, 不仅耗样多、误差大或受 [ 1 ] 分子形状的影响, 且各方法所测分子量的性质不同, 需要几种方法配合使用 , 很不方便. 而糖本身高极性、难挥发、热不稳定的性质以及多糖较高的分子量和其分子量的发散, 使糖 [2 ] ( ) 类物质分子量的质谱表征比较困难 . 基质辅助激光解吸电离质谱 是一种新 M A L