不良报告原因分析以及改善范本.ppt

制作：品保部 日期：2013/12/14 客戶名稱：LGD/NJ LP156WH2-TLAA Prism UP 线状刮伤不良報告 一、不良现象及原因说明： 机种：LP156WH2-TLAA 材质：HGL-1-SF2 T200um 料号：3032L-0664E Sample 01: X20 倍 PET背面无线状刮伤 X20 结构波谷无线状刮伤 X50 结构波谷无线状刮伤 X10 结构波峰有线状不良 X50 结构波峰----擦试后OK X50 结构波峰有类似残胶 一、不良现象及原因说明： 机种：LP156WH2-TLAA 材质：HGL-1-SF2 T200um 料号：3032L-0664E Sample 02: X20 倍 PET背面无线状刮伤 X20 结构波谷无线状刮伤 X50 结构波谷无线状刮伤 X20 结构波峰有损伤不良 X20 结构波峰----擦试后无变化 X50 结构波峰有损伤 一、不良现象及原因说明： 机种：LP156WH2-TLAA 材质：HGL-1-SF2 T200um 料号：3032L-0664E Sample 03: X20 倍 PET背面无线状刮伤 X20 结构波谷无线状刮伤 X50 结构波谷无线状刮伤 X20 结构波峰有损伤不良 X50 结构波峰有损伤 一、不良现象及原因说明： 机种：LP156WH2-TLAA 材质：HGL-1-SF2 T200um 料号：3032L-0664E Sample 04: X20 倍 PET背面无线状刮伤 X20 结构波谷无线状刮伤 X50 结构波谷无线状刮伤 X20 结构波峰有损伤不良 X50 结构波峰有损伤 一、不良现象及原因说明： 机种：LP156WH2-TLAA 材质：HGL-1-SF2 T200um 料号：3032L-0664E Sample 05: X20 倍 PET背面无线状刮伤 X20 结构波谷无线状刮伤 X50 结构波谷无线状刮伤 X20 结构波峰有损伤不良 X50 结构波峰有损伤 * 二、不良原因解析： NO. 不良 项目 不良 数量 所占 比例 不良图片 原因分析 改善对策 备注 1 　线状刮伤不良 　 　4 　80% 　 保护膜原材料本身存在 的“鱼眼”胶粒，对结构表面波峰形成压伤性损伤; 2.切碎屑、履带表面异物、 产品四周可去除类异物等 对结构表面波峰形成压伤 性损伤; 1.保护膜厂商对保护膜“鱼 眼”胶粒品质进行改善； 2.裁切后产品四周异物的 作业方式改善------增加 LED灯源进行异物判定； 　 2 　1 　20% 　 1.产品结构表面残留类似残 胶的异物，经过酒精擦试 后异常痕迹可以去除。 1.裁切片材作业前增加对每 卷原材料100%的正保粘性 进行粘度值的测试，依台 湾EFUN提供之规格值小于 10g为合格进行判定，OK 的材料方可投入生产作业 LGD的产品。 　 X20 结构波峰有损伤不良 X50 结构波峰有损伤 X50 结构波峰----擦试后OK X50 结构波峰有类似残胶 三、改善对策（一）：产品側邊、四周異物管控 現況清潔措施說明： 品檢 洗料 包裝 品檢站與洗料站先以黏塵紙清潔膜片四周！ 包裝前再以黏塵滾輪清潔膜片四周一次！ 增加清潔措施說明： 1.在包裝前以LED燈源再檢驗一次，若發現側邊異物退回品檢重新清潔。 品檢 洗料 LED 燈檢 包裝 2.LED強光燈檢測導入： DFO针对LGD机种全部片材导入經過強光燈檢查， 後續出貨內外箱會標示〝強光燈檢查品〞！ 增加光源後異物更易檢出！ 強光燈下異物更易檢出！ 1.改善方向： 三、改善对策（二）：保护膜胶粒品质提升 2.保护膜制程说明： 3.保护膜改善批日程计划： Days 2/14 改善要求知会保护膜厂商 2/22 验证品入料台湾EFUN准备贴膜 2/25 台湾EFUN验证品小量X支出货至大陆DFO 3/10 验证品X支检验入库存 3/12 验证品X支裁切后出货LGD效果验证 注： “X”表示的实际数量依供应商提供之数量另行通知！ 三、改善对策（三）：制程中增加粘度拉力的测试 裁切 洗料1 目視全檢 整平 聚光捲料 分條 卷料粘度拉力测试： 注：裁切片材作业前增加对每卷原材料100%的正保粘性进行粘度值的测试，台