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DAOI 設備操作手冊 Drill AOI Machine Version 2.1.1-C Date FEB/11/2007 Author NASA 目錄 1. 設備介紹 4 1.1. 設備規格 4 1.2. 特性說明 5 1.3. 檢驗項目 5 1.4. 機器外觀 7 1.5. 硬體元件 8 1.6. 面版操作 8 1.7. 控制系統 9 2. 軟體操作 10 2.1. 開機程序 10 2.2. 量測步驟 11 2.3. 軟體功能介紹 12 3. 設備保養： 21 3.1. 清潔 21 3.2. 硬體校正 22 3.2.1. 基座水平校正 22 3.2.2. 鏡頭影像垂直度 22 3.2.3. X-Y平面水平垂直度 22 3.2.4. 治具及蓋版配合度 22 3.3. 確認項目 22 3.3.1. 燈源方向 22 3.3.2. 其它事項 22 3.4. 配電圖 23 4. 異常排除 24 4.1. 傳檔問題排除 24 4.2. X-Y-Z軸運動故障排除 25 4.3. 影像故障排除 26 4.3.1. 類比CCD 26 4.3.2. 數位CCD 27 4.4. 無法移動料盤位置 28 4.5. 燈炮更換方法 28 5. 電腦系統復原及備份： 29 5.1. 系統還原 29 5.2. 程式架構及備份 29 5.2.1. 程式備份 29 5.2.2. 程式架構 29 6. 備品及零件列表： 31 6.1. 消秏備品 31 6.2. 零件列表 31  設備介紹 設備規格 主要功能：印刷電路版用微小鑽針自動品質檢測用。 外觀尺寸：長100cm寛120cm高200cm。 總重 ：約1000kg 機台顏色：米白與金 檢測速度：無自動對焦 25支/分，開啓自動對焦12支/分(實際檢測速度需視現場環境及影像清晰度不同而定。) 電源 ：AC110V 60Hz 15A 料盤規格 ：本設備備有三種規格料盤治具供選擇。 1.500支 間距6mm 3.175及2.0把柄 20x25陣列。 2.200支 間距5mm 2.0把柄 10X20陣列 倒插針。(可放置三盤) 3.50支 3.175把柄10X5陣列彈夾盒。(可放置六盤) 特性說明 軟體平台 ：採用必威体育精装版技術撰寫，容易操作及維護，所產生之報表為web檔，並可與網路整合，主管可隨時於遠端監控品質狀況。 設備穩定度：開發團隊擁有十年以上鑽針製造經驗，4年以上鑽針AOI改良經驗，充份了解鑽針檢測需求，如何有效篩選品質優良之鑽針。 設備成熟度：經過4年之改良進步及3年之鑽針製造商量產經驗，設備己趨成熟穩定。 光學系統：本設備採用高精密之光學系統，並配合精密設計之光源，使檢測結果真實呈現。 光學檢測基本特點：除可排除人工檢測因疲勞及各人差異造成之檢測誤差，並可減少因人為產生之鑽針嚴重崩角之品質重大異常。 資料處理應用：自動檢測可將每支數據存檔分析，除可做製程能力統計分析用，並可做日後因鑽針造成異常之品質追蹤使用。 檢驗項目 本檢測機主要是檢測鑽尖面所有幾何不良項目，檢測計算標準依據IPC國際標準規範，但因某些特殊角度鑽針及特微鑽針其光學取像限制原因，使之鑽針第二面檢測項目必需略過。其項目及計算方式及對鑽孔的影響詳列如下 重疊：： 機器外觀 本設備是是花崗岩為基礎台面，配合堅固之外罩及相關控制配件組立而成，其外觀如下。  硬體元件 1.光學系統 光學系統為取像至電腦之光學組件，包含了CCD、實體顯微鏡、光源等等。 2.治具 供放置鑽針針盤之用，最上一層黑色蓋版，是將鑽針壓制，於移動時固定鑽針，以利自動檢測時不至振動，因料盤底層非平面，故需第二層之頂針，為將鑽針上頂至相同高度，使鑽針高度不致超過景深所能包含的範圍。 3.X-Y-Z table 3a.X-Ytable 位於花崗岩台面之上方，左右向為X軸(位於下方)，Y軸則置於X軸上方，X-Y table之功用為移動料盤，將待測鑽針移至鏡頭下方檢測，其原點為右後方。 3b.Z軸固定於花崗岩立柱，是帶動鏡頭組做自動對焦使用，其歸零點為上方。 面版操作 面版位於機台正面，其有顯示營幕、鍵盤滑鼠、五個控制鈕及一個顯示燈。 a.急停鈕是將運動軸緊急斷電停止運動，供緊急使用。 b. 總開關(開啓及關閉。 c. 日光燈開關控制機台內日光燈是否開啓  控制系統 控制系統包含了電腦及配電箱。 電腦是控制機台動作之主要元件，位於機台下方機體內。 配電箱位於機台左側下方，其配置為。a.端子台b. 5Vpower supply c.X-Y-Ztable Driver d. X-Y-Ztable 配線盒。