FPGA测试技术及ATE实现 - 计算机工程与应用.PDFVIP

Computer Engineering and Applications 计算机工程与应用 2011 ，47 （6） 65 FPGA 测试技术及ATE 实现 龙祖利，王子云 LONG Zuli ，WANG Ziyun 1.西南科技大学，四川 绵阳 621010 2.中国工程物理研究院 电子工程研究所，四川 绵阳 621900 1.Southwest University of Science Technology ，Mianyang ，Sichuan 621010 ，China 2.Institute of Electronic Engineering of CAEP ，Mianyang ，Sichuan 621900 ，China LONG Zuli ，WANG Ziyun.FPGA testing technology and ATE to achieve.Computer Engineering and Applications ，2011 ， 47 （6）：65-67. Abstract ：With the FPGA size and complexity increasing ，the test is very important.This paper describes the structure of the SRAM-based FPGA profiles and FPGA testing methods to Xilinx ’s spartan3 series chip ，for example ，using the multi-detec- tion logic cell （CLB ）mixed-fault testing methods ，elaborate on how to achieve on-line FPGA configuration ，functions and pa- rameters testing on the Automatic Test System （ATE ）.A practical approach for the FPGA application-oriented test is provided. Key words ：Field Programmable Gate Array （FPGA ）；multi-detection logic cell （CLB ）；test ；Automatic Test System （ATE ） 摘 要：随着FPGA 的规模和复杂性的增加，测试显得尤为重要。介绍了SRAM 型FPGA 的结构概况及FPGA 的测试方法，以 Xilinx 公司的spartan3 系列芯片为例，利用检测可编程逻辑资源的多逻辑单元（CLB ）混合故障的测试方法，阐述了如何在自动测 试系统（ATE ）上实现FPGA 的在线配置以及功能和参数测试，为FPGA 面向应用的测试提供了一种可行的方法。 关键词：现场可编程门阵列（FPGA ）；多逻辑单元（CLB ）；测试；自动测试系统 DOI ：10.3778/j.issn. 1002-8331.2011.06.019 文章编号：1002-8331（2011 ）06-0065-03 文献标识码：A 中图分类号：TP302 随着集成电路技术的发展，现场可编程门阵列FPGA（Field 万化，他们都有一个共同之处，即在广义上具有掩膜编程门阵 Programmable Gate Array ）器件已经成为当今世界上最富吸 列的通用结构：由逻辑功能块排成阵列组成，并由可编程的互 引力的半导体器件，在现代电子系统设计中扮演着越来越重 联资源连接这些逻辑功能块来实现不同的设计。典型的 要的角色，被广泛地应用于航空航天、通讯、互联网技术及汽 SRAM 型FPGA 电路部分基本上都由可编程逻辑单元（CLB ）， 车工业等诸多领域，尽管FPGA 作为可编程逻辑器件的杰出代 联线资源（IR ），输入输出单元（IOB ）构成。 表，它的性能越来越可靠，价格越来越低廉，越来越受到人们 的重视，但随着FPGA 的广泛应用，对其可靠性的要求也变得越 2 FPGA 逻辑资源的测试[3-5] 来越高。所以，对FPGA 器件的故障检测、诊断方法、可测性设计