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IC 的热特性-热阻 - 德州仪器
Application Report
ZHCA592 – January 2014
IC 的热特性-热阻
刘先锋Seasat Liu,秦小虎Xiaohu Qin 肖昕Jerry Xiao North China OEM Team
摘要
IC 封装的热特性对 IC 应用和可靠性是非常重要的参数。本文详细描述了标准封装的热特性
主要参数:热阻(Θ 、Θ 、Θ )等参数。本文就热阻相关标准的发展、物理意义及测量方式
JA JC CA
等相关问题作详细介绍,并提出了在实际系统中热计算和热管理的一些经验方法。希望使
电子器件及系统设计工程师能明了热阻值的相关原理及应用,以解决器件及系统过热问题。
目录
1 引言2
2 热特性基础 2
3 热阻2
4 常用热阻值 5
5 有效散热的经验法则 6
5.1 选择合适的封装 6
5.2 尽可能大面积的PCB 覆铜 6
5.3 增加铜厚度 8
5.4 用散热焊盘和过孔将多层PCB 连接 8
5.5 合理的散热结构,不影响散热路径,便于热能的扩散 8
5.6 散热片的合理使用 9
5.7 选取合适的截面导热材料 9
5.8 机箱散热 9
5.9 不要在散热走线上覆阻焊层 10
6 总结 10
7 参考文献 10
图表
图1. 芯片热阻示意图 3
图2. JESD51 标准芯片热阻测量环境示意图 4
图3. TO-263 热阻模型图 4
图4. 典型的PCB 扩展热阻模型图 5
图5. ADS58C48 在不同温度和工作电压下的特性 6
图6. 热阻和铜散热区面积的关系 7
图7. 功耗和铜散热区面积的关系 7
图8. ADS62C17 建议过孔方案 8
图9. BGA 芯片加散热片后热阻示意图 9
1
ZHCA592
1 引言
半导体技术按照摩尔定理不断的发展,集成电路的密度越来越高,尺寸越来越小。所有集成电路
在工作时都会发热,热量的累积必定导致半导体结点温度的升高,随着结点温度的提高,半导体
元器件性能将会下降,甚至造成芯片损害。因此每个芯片厂家都会规定其半导元体器件的最大结
点温度。为了保证元器件的结温低于最大允许温度,经由封装进行的从IC 自身到周围环境的有效
散热就至关重要。在普通数字电路中,由于低速电路的功耗较小
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