单原子电子源を搭载した 低加速走查型电子显微镜 - 日本显微镜学会.PDFVIP

单原子电子源を搭载した 低加速走查型电子显微镜 - 日本显微镜学会.PDF

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单原子电子源を搭载した 低加速走查型电子显微镜 - 日本显微镜学会

に常時さらされている.電子放出現象は表面の変化に敏感で 大きな電流変化を生ずるため,加熱処理等によって簡単に修 復できる機能が長寿命の電子源面には必要とされている. 単原子電子源を搭載した 1986 年,放出領域を原子1 個に制限して,電子ビームの 空間的可干渉性や輝度を飛躍的に向上させるナノ電子源(ま 低加速走査型電子顕微鏡 たは単原子電子源と呼ばれる)が,Fink によって提案され 1) Low Energy Scanning Electron Microscope た .彼は電界蒸発をつかって,鋭いW 針先端をさらに先 鋭化し,原子3 個で終端した原子構造を作り,その上に,W Mounted with a Single-atom Electron Source 原子を1 個蒸着して単原子終端の針を作製した.やや遅れて Binh らは,高温・高電界条件下の表面拡散(表面融解法と a a,b a,c 千代田直紀 ,石川  剛 ,趙  福来 , 2) 呼んでいる)によって,W 針先端にナノ突起を製作し ,そ d e f 米澤  彬 ,齊藤 秀一 ,神田  誠 , の先端の単原子からコヒーレントな電子ビームを放出させ, 大島 忠平a 投影電子顕微鏡に適用した.同様に,我々も,残留気体の吸 Naoki Chiyoda, Tsuyoshi Ishikawa, Bokurai Cho, 着したW 針先端に負の電界を印加して,電子ビームの放出 Akira Yonezawa, Hidekazu Saito, Makoto Kanda 過程で,先端にナノスケールのナノ突起を成長させ,先端が and Chuhei Oshima 3) 1 原子で終端した電子源を製作できることを報告した .似 a早稲田大学各務記念材料技術研究所 た現象は1989 年に遷移金属炭化物上でも既に報告されてい 4) b る . 現(株)豊田中央研究所 c これらの単原子源から放出してくる電子ビームは,高い輝 現(株)日立ハイテクノロジーズ d 度や高い空間的可干渉性をもっているが,電子源の寿命や電 (株)ホロン e 流安定性,及び製作した電子源の再現性の点で大きな問題を (

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