食品安全控制技术资料.ppt

收集检测器 离子化质 灯丝 阳极 抽真空 加速电压 样品 质量大的离子 质量小的离子 离子囊 出射狭缝 放大记录系统 180°型质谱仪简图 磁场 是质谱仪的主体根据磁场列型不同可分180 型及扇形式两种（如图示）。 质量分析器 * 现代仪器分析技术是食品安全 关键控制技术主要手段，为食品质 量安全管理控制、标准制定提供依 据。 * 瓦里安CARY50 UV-VIS-NIR 光度计 （190-1100nm） 光源 光源 单色器 样品室 检测器 样品室 单色器 二极管阵 列检测器 显示系统 显示系统 紫外-可见光分光光度计 主要组成部分 二极管阵列分光光 度计示意图 德国耶拿公司二极管阵列光度计 * 关注4： 仪器功能开发应用进展 * 微量分析光谱仪 采用光化学法（Photochemiluminescence) 测量化合物中抗氧化剂及超氧化歧化酶。 * 上述仪器 属于常规通用型设备 关注4： 专项类仪器发展 对象：元素类（AAS、ICP、AFS、ECA）。 方向：快速、灵敏（痕量分析技术）。 自动八灯灯架可同时装8只空心阴极灯或4只空心阴极灯与4只无极放电灯。 八灯自动选择和自动准直 Spectr AA 220FS 独特的固定灯座，反射镜旋转选择元素灯的设计，保证选灯速度快，提高光源稳定性，且具有元素灯自动预热功能，可延 长灯的使用寿命。 原子吸收光谱仪 * 连续光源光谱 AFS-2202E原子荧光光度计 重金属分析 ICP6500炬管构造示图 IRIS Advantage 的垂直观测型仪器除了具备基体效应小，线性范围宽、灵活维护简单的优点外，更具有同类仪器中杰出的灵敏度和无与伦比的检出限，特别适用于冶金、石油、地矿等基体复杂的领域。 1.垂直观测Radial TraceTech痕量端视技术，是在ICP领域推出的 一大技术改进。独特的长炬管将火炬全部套在炬管中，在氩气的屏蔽下，减少产生氧化物、氮化物等化合物的化学反应，使背景降低，同时无须尾焰切割气幕，避免对紫外波长的吸收。采用圆形狭缝，轴向正对等离子体样品通道采集样品区的信号而把绝大部分的背景信号挡在狭缝外，从而提高信噪比。 2.水平观测（Axial) 双观测可使任何分析都在最佳灵敏度条件下进行。 垂直观测 水平观测 全谱直读等离子体发射光谱仪 中阶梯光栅、石英棱镜和CID二维阵列检测器。所有谱线全部在CID上暴光。 多道同时型和单道顺序扫描型。同步背景扣除。 中阶梯光栅-石英棱镜构成二维交叉色散系统产生的光谱聚焦在拥有26万多个感光点的 CID上，在167 ～ 1050nm范围的CID上暴光，整个光谱范围内的连续光谱包括谱线、背景被全部采集，测量、储存。 由于CID在二维中的每一维都有512的连续检测单元，因而可以显示出谱线的三维谱图。 有元素的谱线一根不漏地记录下来为每个样品留下自己的“指纹”，同时进行定量测定。 CID检测器是原子发射光谱的巨大飞跃，它的26万个感光点每个都相当于一光电倍增管，这个阵列可将样品中所 化合物定性、定量技术的发展 色谱技术 气相色谱法 高效液相色谱法 毛细管电泳 薄层色谱法 质谱 碰撞池技术的工作原理 碰撞池技术CCT是将离子术射入一个装有反应或碰撞气体如He，H2或NH3等的加压碰撞池，当多原子离子与反应池内的气体碰撞时，它们被撞碎成其组成原子或离子。 * 4）能提供更多的信息 荧光分析法能提供包括激发光谱、发射光谱、荧光强度、荧光寿命、 总荧光量、荧光效率、荧光偏振等许多物理参数。可获取结构和样品浓度等更多信息，这些是分光光度法所不能相比拟的。 * 关注点1： 二维光谱技术 激发光谱 测定条件：EM=360nm EX=240-500nm 狭缝宽度10nm 扫描速度200nm/min 同步扫描光谱 测定条件：EX=240-500nm 波长差=60nm (从300-540nm开始扫描）狭缝宽度=10nm 扫描速度=200nm/min 三维荧光光谱 三维荧光等高线图 测定条件：EX=200nm 步长=10nm EM=300-500nm 扫描次数=20 狭缝宽=10nm 扫描速度=1500nm/min * 关注点2： 微分光谱