针对电子测试和测量的RF和微波解决方案.PDF

方案编号：APM_RF_ETM_2016 针对电子测试和 测量的RF和微波 解决方案 应用简介 为何选择ADI RF和微波IC广泛用于电子测试和测量仪器，比如频谱分析仪、 X ADI公司供应上千款高性能RF IC产品，包括各种RF功能模块以 网络分析仪、信号发生器和通信测试仪。当无线通信在我们的 及用于电子测试与测量系统的高度集成式解决方案。 生活中变得越来越普及，比如4G/5G和物联网，对于它们的测试 X 众多设计资源为RF系统的开发提供了极大方便，包括免费设 基准的要求也在不断提高。在本文中，我们将讨论ADI产品如何 计工具、FMC快速原型开发平台、Circuits from the Lab®参考设 融入相关信号链。 计和EngineerZone® 中文技术论坛。 主要挑战和系统设计考虑 X 50多年来，ADI公司对性能、可靠性和可持续性的不懈追求使 其成为首选供应商。 宽动态范围 ( ) 相关信号链 最小化RF测试台的噪底比如相位噪声对于保持宽动态范围内的 测试信号纯度很重要。但是，更多的数字信号处理任务将增加 频谱/信号分析仪 辐射噪声，因此获得干净的信号是个难题。 下面是传统的频谱/信号分析仪信号链。ADI提供针对信号分析 宽带宽 和频率合成的各种解决方案，包括用来产生LO和测试信号的 DDS解决方案和锁相环，以及低噪声放大器和增益模块、混频 另一个重要目标是使RF测试台的带宽达到最大。可在此平台中 器、可变增益放大器和视频/RF放大器，组成完整的发送和接收 实现软件定义无线电以方便配置、操作、维护和升级。但是， 信号链；另外还有高精度、高分辨率的14/16位高速ADC 。对于 找到足够好的元件覆盖此宽带宽是个难题。 低成本解决方案和内部电平校准，ADI提供宽带RF检波器和双通 稳定性 道RF功率检波器，可测量增益和相位。 时间漂移和温度漂移是从电子测试和测量仪器中获得工作范围 内精确重复读数的两个关键因素。但是，这两个因素均不易于 校准。 请访问：/cn 2 针对电子测试和测量的RF和微波解决方案 PLL/VCO Calibrator 2 Supervisory 3 4 3 4 3 4 10 11 Power