光电比色类仪表教程.ppt

第一章、仪表类型 第二章、仪表结构 第三章、仪表工作原理 第四章、仪表介绍 第五章、仪表使用 第六章、仪表电路 第七章、我公司仪表在电厂中应用 第八章、仪表常见故障及排除 1056系列硅表、磷表、联氨表为在线水分析光电比色类仪表。 仪器由电气系统和流路系统组成。电气系统位于箱体的上部，下部为流路系统。 一、电气系统 电气系统包括：电源板、主板+液晶显示器、信号板、电流输出板、控制板、继电器板主板、按键面板。 二、流路 流路系统包括：溢流杯、标液杯、计量混合杯、光度计组件、排污电磁阀、精密计量泵。 硅、磷、联氨仪表外观基本相同，硅表流路系统如下图： 光电比色原理——朗伯-比尔（Lambert-Beer）定律 测定硅酸根含量的化学反应基理： 在pH值为1.1～1.3的条件下，水中的溶硅与钼酸铵生成黄色硅钼络合物，用还原剂把硅钼络合物还原成硅钼蓝，根据硅钼蓝的最大吸收波长，通过光电比色法测量硅酸根的含量。 光学分析法： 基于被测成分的某些光学特性（如吸收光波、发射光波、反射光波、散射光 波等），采用适当的装置，对被测成分进行定性或定量分析的法。 光学分析特点法： 光学分析法具有准确、快速、灵敏、操作简便等优点，特别适于微量和痕量 分析。光学式分析仪器种类之多和分析对象之广，在分析仪器中都居首位，在种 类和数量上它约占分析仪器的30%-40%。这类仪器不仅广泛地用在电厂化学实验室 的化学分析中，而且越来越多地用于生产流程的在线监督。 光学分析法分类： 光学分析法按作用原理不同，可分为比色法、分光光度法、光谱分析法、浊 度分析法等等，每种方法又均可采用多种型号的仪器。 二、关键技术介绍 1、空白校准的作用 任何电路都不可避免地会产生漂移现象，如果仪表产生了漂移，就会影响测 量数值的真实性，为了消除电路漂移对测量值产生的影响，所有比色类仪表均设 置了空白校准功能。空白校准的理论依据是：无论水的硅含量是多还是少，是纯 水还是普通水，在未加入任何试剂之前其透光度非常好，且十分稳定。基于这一 事实。无论何时，向仪表倒入空白水时其所测量的电压值理论上应该是一样的， 如果不一样，那就说明是仪表产生了漂移（通常称为空白漂移）。电压差越大说 明漂移越大。实际应用中，曲线校准的第一项为空白。测量时先测一下空白，如 果两个空白值产生差异，则说明漂移的存在，记录此差值，并按一定的方法计算 出差值的大小，并在显示测量数值时补偿上。则显示值即为真实值，不受漂移的 影响。 显色液吸光度-空白样水吸光度= SiO2 显色液吸光度 2、本底补偿 本底补偿是硅酸根监测仪所特有的一项功能。可以将此项功能设为“开”或 “关”。 设置此功能的原因是： 我们校准仪表所用的标准液是以零硅水为基础的，而在现实当中，根本就没有零 硅水的存在，无论我们怎么努力 ，硅离子还是存在于水中，所以我们所做的标准 除了添加的含量外还有水中原本就有的硅含量，即实际的硅离子浓度总比理论的 硅离子浓度高，并且由于水中所含硅离子的浓度是一个未知量，所以并不能肯定 高出多少，那么在测量时也就不能测得真实的硅含量。 本底补偿功能是通过用标准液对仪表进行的校准，因为理论上，校准时各点 均应该在一条直线上，但是由于零点是倒加药，不受本底硅的影响，而其它各点 均是正加药，受本底硅的影响。就造成了曲线的不线性，本底硅越高，则这种不 线性越明显，根据不线性的程度，换算成一定的浓度值，再在测量时进行补偿， 这就是本底补偿功能的意义所 在。 将样水引进恒温器，在恒温器中，样水的温度被恒定到30℃，保证低温水样的测量精度。 保证测量的稳定性。 工艺创新： 采用特有的热处理工艺，消除有机玻璃内应力，避免了成品部件放射状开裂的发生。 结构创新 改造计量泵泵出口结构，提升加药精度，并有效解决了试剂回流问题。 计量泵的出口结构 以上在所有的监测项目中有两项是人为向水中加的磷酸盐 和联氨。通常水中是不含这两种物质的。 目的如下： 联氨：通过化学的方法除去水中的氧离子，减小金属腐 蚀程度。 磷酸盐：大多采用磷酸三钠，防止钙镁水垢和防止锅炉金属腐蚀。 仪表常见故障如下： 一、测量值异常(显示为0或无变化) 1．发光源不发光。 2．接收光电池损坏。 3．电磁阀损坏。 4．显色试剂用完或不能正常进药。 二、混合杯无搅拌气泡 1．气泵损坏。 2.气泵调节阀损坏 三、输出电流不正常 1．通道1和2坏，主板问题。 2．通道3～6无输出，输出电流