材料测试习题.docx

1、1、 X射线衍射在材料分析测试方面有哪些具体的应用？2、 X射线的本质是什么？获得X射线的方法有哪些？3、简述X射线管的基本原理。4、滤波片的作用是什么？应该怎样选择？5、写出求解公式：I）已知同一晶带的两晶面指数，求晶带轴；II）已知两晶带轴平行于同一晶面，求此晶面指数。6、在立方点阵中画出下面的点阵面和结点方向。（010）（0-11）（113）[1-10] [201][101] 7、将下面几个干涉晶面（属立方晶系）按面间距的大小排列。（123）（100）（-200）（31-1）（1-21）（210）（110）（-221）（030）（130）8、证明在六方晶系中h+k＝-i。9、晶面（110）（311）（132）是否属于同一晶带？晶带轴是什么？再指出属于这个晶带的其它几个晶面。10、试求六方晶系的面间距公式。（自由选作）2、1、试推导劳厄方程并解释其物理意义。2、推导布拉格定律。该定律有何应用？3、试述影响X射线的衍射线束强度的主要因素。4、什么是结构因子？对衍射强度结果有何影响？5、X射线照射在单晶Au薄膜样品上，表面是（111）晶面，入射波波长为0.1542nm，点阵常数为0.4078nm，求最低角衍射束的衍射角2θ。6、上题中单晶Au薄膜样品，如果是电子束垂直薄膜表面入射，电子波波长为0.002nm，求晶面（20-2）反射束的衍射角。7、写出三个立方晶体中与晶面（11-1）和（011）都垂直的晶面。8、假设薄晶体只有一层晶胞，现有单色平面波垂直该晶体表面入射，试分析该晶体产生的衍射现象。（选做）9、对于晶粒直径分别为100，75，50，25nm的粉末衍射图形，请计算由于晶粒细化引起的衍射线条宽化幅度（设θ＝45°，λ＝0.15nm）。又对于晶粒直径为25nm的粉末，试计算θ＝10°、45°、80°时的B值。10、试计算出金刚石晶体的系统消光规律（F2表达式）。该晶体为立方晶，单胞中有8个C原子分别位于以下位置：000 ， 1/2 1/2 0 ，1/2 0 1/2 ，0 1/2 1/2 ，1/4 1/4 1/4 ， 3/4 3/4 1/4 ，3/4 1/4 3/4， 1/4 3/4 ?。3、1 用CuK?射线以粉晶法测定下列物质,求最内层的三个德拜环的2?角及所代表晶面的hkl值:(1)简单立方晶体(a = 3.00?)(2)简单四方晶体(a = 2.00?, c = 3.00?)2: 用MoK?照射一简单立方粉末样品(a= 3.30?),用Ewald作图表示所发生的200衍射. Mo的K?波长?= 0.7107 ?3 影响衍射强度的因素有哪些？4 Debye图中在高、低角区出现双线的原因分别是什么？5试求直径为57.3mm Debye相机在θ=80o与20o时由Kα1、 Kα2 所引起的双线间距是多少。所用光源为Cu靶（λ1=0.154050nm; λ2 = 0.154434nm; λ = 0.154178nm; )。如所用光源为Cr靶,结果将如何？Calculate the distance (in mm) between the double lines at θ=20?and θ=80? for Debye diagram (Φ=57.3mm), CuKα (λ=0.154178nm; λ1=0.154050nm; λ2=0.154434nm). If Cr were used, what differences occur?6试求直径为57.3mm Debye相机在θ=60o时由Kα1、 Kα2 所引起的双线间距是多少。所用光源为Fe靶（λ1=0.193593nm; λ2 = 0.193991nm)?? Calculate the distance (in mm) between the double lines at θ=60? for Debye diagram (Φ=57.3mm), FeKα . (λ=0.193728nm; λ1=0.193593nm; λ2=0.193991nm).7简单叙述Debye法的原理与实验方法。8作图表示衍射仪的结构与衍射几何（包括样品、反射晶面、聚焦圆、衍射仪圆）1、定量分析的方法主要有哪些？主要原理和优缺点是什么？2、用Fe2O3作为内标物质测定其本身与其它化合物组成矿石中Fe的含量。矿石中Fe的Kα谱线的强度测量为1min计数9000脉冲（背底1200脉冲）；当97g矿石中加入3g Fe2O3后Fe的Kα为1min28800脉冲（背底为1800脉冲）。求矿石中Fe的含量。6、1、精确测定点阵常数为什么要选择高角度衍射线条？2、外推法和最小二乘法测点阵常数的基本原理是什么？3、测得铝在298℃不同衍射半角（θ）对应的晶面分别为：55.48