样品电流模式下外磁场引起的！射线吸收谱强度变化！详解.PDF

第 卷 第 期 年 月 物 理 学 报 ( ’ $$) ’ ， ， ， PI8 .( VI . ’ W6?6FG $$) （ ） ’$$$4#%$Q$$)Q( $’ Q$(’4$/ L,RL 0STNU,L NUVU,L !$$) ,O7 . 0OG@ . NIB . 样品电流模式下外磁场引起的 射线 ! 吸收谱强度变化! 郭玉献 王 ! 李红红 徐彭寿 王 锋 闫文盛 （中国科学技术大学国家同步辐射实验室，合肥 #$$% ） （ 年 月 日收到； 年 月 日收到修改稿） $$ ’ ’ $$( ’ ’) 在用样品电流模式的测量过程中发现，磁场强度、磁场与样品表面的夹角以及光斑在样品表面的位置都会对 吸收谱强度产生影响；在光斑、磁场和样品的不同几何配置下，测量并分析了表面均匀氧化的铝箔中氧的! 边吸收 谱，指出外磁场下吸收谱强度随各种条件变化的趋势，并对实验结果给出了合理解释；结果表明所用的模型分析与 实验数据符合得很好；所得到的信息对于*+,- 实验的设计安排、相应数据的分析以及物理信息的提取具有重要 意义. 关键词： 射线磁性圆二色，样品电流，外磁场，全电子产额 * ： #$$ )/)$- 但对表面不敏感，在入射光子能量小于$$$ :P 的 ’D 引 言 软* 射线波段，由于物质对该波段的光子有很强的 ［，］ ’ 吸收，使得它们在样品中的穿透深度非常有限 ， 随着同步辐射装置的普及，利用样品对 射线 * 因此在很大程度上限制了这种模式在软 波段的 * 的吸收研究材料的结构特性、磁特性已成为一种“标 应用；对于 元素，荧光发射作为受激原子的一种 #C 准”的实验手段，如利用硬* 射线吸收的扩展边精 退激发方式，其产额大大低于相应的电子产额；也有 细结构 （ ， :EA:C:C *4F6G 6H@IFJA7I K7: @AF?BA?F: 文献报道荧光产额与透射法测得的谱有差别，不能 ［］ 3*LMN）研究晶态、非晶态中特定原子周围的配位信 反映原子的真实吸收# ；目前，在反应动力学、催化 息，以及通过 射线的近边吸收获得特定原子的结 *