基于X射线光谱测定法分析氚深度的模拟研究.pdfVIP

第31昏，第3 期 光讲学与光谱分析 Vol. 31 ,No. 3. pp831-834 2 0 1 1 年 3 }j Spcctroscopy and Spcctral 八nalysis March , 2011 基于 X 射线光谱测定法分析氟深度的模拟研究 胡广春，张伟光 中国工粮物.IlI!研究院核物理与化学研究所，四川绵阳 621900 摘 自 佩是一种寄生蟹的身自费材料，在军鄂和民用方向都有广泛的朋诲，就在薄膜靶巾的浓度和部度研究 是一项破要的躁题。文勇~~靠在 f侃自射线语发 X 射线光讲的幌拟方法，分析 r佩归射线诱发 X 射线此谐与 侃的浓度和l 深度分布的关系.研究在明1ut在薄膜但中浓度和探监分布与现1])草光谱在在对应关系，这为利用X 光谱肢解佩含敏和l 深度分布提应[J在础。 关键词 佩深度分布s 佩*债;韧致辐射$数俏榄拟 申阳分类号: 0433.4 文献标识码: A 001: 10. 3964/j. íssn. 1000仍93(2011 )03-0831-04 1 韧致辐射计数方法分析氟分布 引言 佩在材料中的扩散行为政部皮分布、佩蜒的价测，对含 佩的 ß- 衰变产If::低能电子，电子与靶组成原子的韧玫 辐射产生连续 X 射线[3J. 自IXS 是通过对低能 X 射钱的id呆 佩材料废物处用以及反JÑ.堆燃料循环，效率的评估哼H剧都 分析侃的分布i情况。制致制射 X 射线i辑分析低的探肢分布111 有很好的成川前景，特别始在金属贵~化物巾体栩、我1M 低的 以构班成第一提镜子问剧演过税[4]. Id抓起青蛙实际测赣 X 总敏初深度分布的精确测定方面a 贵~是一种放射性组JIÍJ 位 射钱能i荷.佩的部j芷响山的数蛙通过大酸的棋拟计算技取， 3 巅，通过R 袋变产生放射性.T呻He +fT+卢反脱产啡: ß- 粒 靶材小低的1.J ~导缺为待估计簸，很据收子与物质的相Tf.作 子和反~II 微子，佩i量已知的最低能键R 发射器，总跃过·能睡 用， X 射线能讲模拟一般分为以下儿个步辘t 就自射线谐的 仪约 18.6 keV. 不放/Hγ 射线.tt!设有任何种樊肉模米自核 产牛、自射线到 X 射线的转换、以段 R 射线和 X 射线4年:物质 子的也磁制射。迄今为止发展γ很多种报分析H1.在:，包括破 中的输远。在:早期模拟_[作中-三个步骤分别计算，在第气步 坏性初11: 破坏性方法闻亮t 破坏性方法，例如l 格于使JIj般性 涉放射线与物质将， lf.作用的参数、 t级浪~距离、探测视角等多 物质辩解金属的同发蚀剑法，可以分析自个样品中侃常敬和深 种问束，尤JtJ母在几何同è 1t比较挝杂的实验条件1亨，采用一 度分布， i问娃一般米说，其劳动强度大，同时会产生放射性 般的数的计算方法比较繁顶.f