微波等离子体原子发射光谱法直接测定金属铜中微量硅.pdfVIP

第22卷第4期 矿 冶 V01．22，No．4 201 3年12月 MINING＆METALLURGY Deeember2013 文章编号：1005—7854(2013)04．0121-03 微波等离子体原子发射光谱法直接测定 金属铜中微量硅 冯先进 (北京矿冶研究总院，北京100160) 摘 要：建立了微波等离子体原子发射光谱法直接测定金属铜中微量硅的分析方法。在低温加热下 251．611 用硝酸溶解试样，选择si nm的光谱线作为分析线，在选定的称样量情况下，基体铜对测定无干 扰。对A级铜样品测定的相对标准偏差在10％左右，加标回收率在94％一105％。本法测定结果与国 标法(硅钼蓝分光光度法)分析方法测定结果一致。该方法适用于金属铜中微量硅的分析测定。 关键词：微波等离子体原子发射光谱；金属铜；硅；测定 中图分类号：0657，31文献标志码：A doi：10．3969／j．issn．1005．7854．2013．04．027 DETERMINA’r10N0FSILICONINCOPPERBYMICROWAVE PLASMAATOMICEMISSIONSPECTROMETRY FENG Xian-jin GeneralResearchInstitute and 1001 (Beijing ofMiningMetallurgy，Beijing60，China) for siliconin metalMicrowavePlasmaAtomicEmission methoddeterminationof ABSTRACT：A copper by Spec— inthisarticle．’the wasdissolvedwithnitricacid atlow established sample byheating troscopy(MP-AES)was lineofSi251．611 nmwasselectedas line．Thematrixof didnoteffect temperature．Thespectral analytical copper deviationof ofA— onthedeterminationofsilicon method．Therelativestandard siliconinthe byselecting sample iSabout addition iSbetween94％and105％．Thedeterminationresultsare class 10％．standard copper recovery established consistentwithdetermina